Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Plate-forme Appliquée d'Analyse de Défauts de SEMVision G4 Honorée Récompense Bien Choisie du Produit des Éditeurs Prestigieux de la Meilleure Par le Magazine de SI

Published on July 15, 2009 at 7:57 PM

Applied Materials, Inc. ont aujourd'hui annoncé que sa plate-forme Appliquée d'Analyse de Défauts de SEMVision™ G4 a été honorée Récompense Bien Choisie du Produit des Éditeurs prestigieux de la Meilleure par le magazine d'International (SI) de Semi-conducteur. La combinaison de gain de la technologie novatrice et de la performance production-prouvée a effectué à la plate-forme de SEMVision G4 le défaut réviser l'outil du choix pour des règles du design 32nm et au-delà.

La technologie Novatrice et la performance production-prouvée ont effectué à la plate-forme Appliquée de SEMVision G4 le défaut réviser l'outil du choix pour des règles du design 32nm et au-delà. (Photo : Business Wire)

« Programme Bien Choisi de récompenses des Produits des Éditeurs le Meilleur reconnaît des produits, matériaux et les services qui sont prouvés dans l'environnement de fabrication, » a dit Laura Peters, Rédacteur-en-chef d'International de Semi-conducteur. « Dans l'évaluation, les éditeurs du SI considérez les produits basés sur le contrôle par retour de l'information des abonnées réelles dans le domaine et seulement le plus hautement le recommendé est honoré tous les ans. »

« Cette récompense identifie la technologie de SEMVision Appliquée par énorme incidence a eu sur l'entreprise de semiconducteurs, » a dit St Dennis, de Tom vice-président principal et directeur général du Groupe de Systèmes du Silicium des Matériaux Appliqués. « La qualité des images exceptionnelle du système de SEMVision G4 et les capacités avancées d'analyse matérielle sont des puissants outils pour aider des fabricants de circuits intégrés à comprendre et atténuer les causes d'origine des défauts de rendement-massacre. »

Les systèmes Appliqués de SEMVision de Révision de Défaut sont conçus pour les applications de révision les plus avancées, capable du redetection automatique de défaut (ADR) et de la catégorie automatique de défaut (ADC) des défauts critiques. Les Fonctionnalités clé de la technologie de SEMVision G4 sont son fléau neuf de microscope électronique (SEM) de lecture et système amélioré de représentation du multi-point de vue SEM qui fournissent la définition 2nm matérielle de pointe pour la qualité des images inégalée à des tarifs de révision de benchmark d'un défaut-selon-deuxième.

La révision automatique de défaut frayée par système Appliqué de SEMVision en 1998, révolutionnant les fabs de voie trouvent et analysent l'information de défaut. Pendant les dix dernières années, la technologie de SEMVision a fourni à activer la capacité à l'industrie, plus de 700 systèmes installés aux sites client mondiaux. C'est la troisième récompense de SI pour la technologie Appliquée de SEMVision, commençant par le premier système de SEMVision en 2000 et poursuivant le BOBARD de SEMVision G2 en 2005.

Applied Materials, Inc. (Nasdaq : AMAT) est l'amorce globale dans des solutions de Nanomanufacturing Technology™ avec un portefeuille grand de matériel novateur, service et logiciels pour la fabrication des puces de semi-conducteur, affichages à panneau plat, cellules photovoltaïques solaires, électronique flexible et glace de rendement optimum. Aux Matériaux Appliqués, nous appliquons la Technologie de Nanomanufacturing pour améliorer les gens de voie sous tension.

Last Update: 13. January 2012 23:39

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit