Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Прикладная Платформа Анализа Дефекта SEMVision G4 Удостоинная с Наградой Продукта Престижных Редакторов Отборной Самой Лучшей Кассетой SI

Published on July 15, 2009 at 7:57 PM

Прикладной Материалы, Inc. сегодня объявило что своя Прикладная платформа Анализа Дефекта SEMVision™ G4 была удостоина с Наградой Продукта престижных Редакторов Отборной Самой Лучшей кассетой International (SI) Полупроводника. Выигрывая технология сочетание из новаторская и продукци-доказанное представление сделали платформой SEMVision G4 инструмент просмотрения дефекта выбора для 32nm конструировать правила и за пределами.

Новаторская технология и продукци-доказанное представление сделали Прикладной платформой SEMVision G4 инструмент просмотрения дефекта выбора для 32nm конструировать правила и за пределами. (Фото: Провод Дела)

«Программа наград Продуктов Редакторов Отборная Самая Лучшая подтверждает продукты, материалы и обслуживания которые доказаны в производственной среде,» сказал Лауру Peters, Главный редактор International Полупроводника. «В процессе оценки, редакторах SI учитывайте продукты основано на обратной связи от фактических клиентов в поле и только самые сильно рекомендованные одни удостоины каждый год.»

«Эта награда узнает технологию SEMVision большущий Applied's удара имела на индустрии полупроводника,» сказал St. Дэннис, старший вице-президент и генеральный директор Tom Группа Систем Кремния Прикладных Материалов'. «Качество изображения Системы SEMVision G4 исключительнейшее и предварительные возможности материального анализа мощные инструменты для того чтобы помочь чипмейкерам понять и mitigate первопричины дефектов выход-умерщвления.»

Прикладные системы SEMVision Просмотрения Дефекта конструированы для самых предварительных применений просмотрения, способно автоматического redetection дефекта (ADR) и автоматического классифицирования дефекта критических дефектов. Главные особенности технологии SEMVision G4 свои новая колонка электронного кинескопа (SEM) скеннирования и увеличенная система воображения SEM multi-перспективы которые поставляют современное физическое разрешение 2nm для бесподобного качества изображения на тарифе просмотрения отметки уровня одно дефект-в-второго.

Прикладной просмотрение дефекта SEMVision pioneered системой автоматическое в 1998, революционизирующ fabs путя обнаруживает и анализирует данные по дефекта. На прошлые 10 лет, технология SEMVision снабубежала включать возможность индустрия, при над 700 систем установленных на местоположения клиента всемирно. Это третья награда SI для технологии SEMVision Applied's, начиная с первой системой SEMVision в 2000 и продолжая с FIB SEMVision G2 в 2005.

Прикладной Материалы, Inc. (NASDAQ: AMAT) глобальный руководитель в разрешениях Nanomanufacturing Technology™ с обширным портфолио новаторского оборудования, обслуживания и продуктов программного обеспечения для изготовления обломоков полупроводника, плоских экранов, солнечных фотогальванических элементов, гибкой электроники и стекла энергии эффективного. На Прикладных Материалах, мы прикладываем Технологию Nanomanufacturing для того чтобы улучшить людей путя в реальном маштабе времени.

Last Update: 14. January 2012 01:16

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit