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NovaMARS Gewählt als Eins von 15 Besten Produkten 2009 durch Halbleiter International

Published on July 16, 2009 at 5:51 AM

Nova Messgeräte Ltd. (NASDAQ: NVMI-) Anbieter der unabhängigen Metrologie der Vorderkante und des Marktführers der integrierten Metrologielösungen zum prozesskontrollierten Markt des Halbleiters, heute angekündigt, dass NovaMARS formendes Scatterometry voranbrachte und zur Analysesoftware ist als eins von 15 besten Produkten 2009 durch die Herausgeber von Halbleiter International gewählt worden. Im Begutachtungsverfahren betrachten die Herausgeber Halbleiter Internationals die Produkte als basiert auf Feed-back von den tatsächlichen Abnehmern auf dem Gebiet, und nur in hohem Grade empfohlenen werden geehrt.

NovaMARS kennzeichnet hoch entwickelte Fähigkeiten, um komplexen Halbleiter 3D zu formen strukturiert und aktiviert Extraktion von feinen Profilsonderkommandos. Vor Kurzem kündigte die Firma MatMaker (TM) an, eine Extension von NovaMARS, das ein revolutionäres Paket der materiellen Kennzeichnung ist, das Zeit auf Lösung von Tage zu Stunden verringern kann, und verbessert Optische CD-Qualität.

„Wir werden geehrt, um das Produkt-Preis diesjährigen Halbleiter Internationals zu empfangen Besten,“ kommentierter Dr. Boaz Brill, VP-Technologie am Nova. „Da Halbleiterhersteller in zunehmendem Maße auf Optischer CD beruhen, um feine Profilsonderkommandos zu extrahieren, die durch herkömmliche Großserienherstellungsmetrologietechnologien wie CD-SEM andernfalls unaufdeckbar sind, wird die Formungssoftware ein kritisches Teil der Metrologielösung. In NovaMARS führten wir hoch entwickelte Algorithmen ein, die mit der Komplexität von hoch entwickelten Einheiten 32nm und 22nm einerseits fertig werden können, während Verkürzungszeit zur Lösung andererseits. Ich sehe, dass NovaMARS als Taste zu die starke Verbreitung unserer Optischen CD-Metrologie weiter ausdehnen, während wir fortfahren, nach den Kenntnissen zu erneuern und aufzubauen und zu erfahren, wir gewann das Arbeiten mit führenden Abnehmern.“

Last Update: 14. January 2012 00:20

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