速く、使いやすい S/TEM は劇的に半導体の製造業アプリケーションの生産性を高めます

Published on July 20, 2009 at 8:52 AM

FEI の会社 (NASDAQ: FEIC)、原子スケールイメージ投射および解析システムの一流の提供者、今日 Tecnai Osiris (tm) のスキャン/伝達電子顕微鏡 (S/TEM 提供する) のリリースを発表しました、革命的な分析的な速度およびパフォーマンスを。 それは FEI の時間からの分に大きい視野の元素マップの時間を減らす新しい ChemiSTEM の技術を含んでいます。 Tecnai Osiris は大量の産業およびマルチユーザーの研究所のための条件を満たすために例外的な使い易さとこの進歩分析的なスループットを結合するように設計されています。

ChemiSTEM のパテント保留中の技術は Tecnai Osiris がエネルギー EDX の信号検出の分裂的な変更とビーム生成の技術の進歩を結合することによって分散 X 線 (EDX) の元素マップの速度の 50 可能にしますまたはより多くの機能拡張の要因を、達成することを。 Tecnai Osiris は大量の分析の生産性そして投資に対するリターンを最大化するように設計されているプラットホームで構築されます。

上席副社長トニー Edwards は、 FEI の市場部の、付け加えます、 「Tecnai Osiris は元素構成の分析に増加する重要性およびすべてのサンプルのマップを置く、今まで、必須の分析的な速度および使い易さの S/TEM がこの条件をサポートすると見つけることができませんでした私達の研究および産業顧客両方の必要性に対応します。 例えば、半導体の製造業の新しい材料の装置サイズそして拡散の継続減少、およびマルチユーザーの研究所の未知の構成が付いているより多くのサンプルの出現は運転します茎イメージ投射と対等な元素マップの速度を EDX の analytics の使い易さに与える S/TEM のための必要性を」。

Edwards は付け加えます時間の代りに、そして複雑な analytics で熟練したオペレータのための必要性なしで市場のこの現在のギャップをうめるように、 「Tecnai Osiris は分の大きいフィールドの眺めを元素マップに与えることによって設計されていました。 この使い易さは専門家が」。より少なくベテランオペレータにマルチユーザーか産業機能の遠隔指導を提供することを可能にする SmartCam 新しいリモート・コントロールインターフェイスによって更に拡張されます、

Tecnai ラインに産業アプリケーションで役馬のツールとしてパフォーマンスの長い歴史および信頼性があります。 Tecnai Osiris、 200 キロボルト (kV) S/TEM は、下記のものを含んでいる多数の技術的な革新の付加との Tecnai の伝統を続けます: 専有 X-FEG の高い明るさの電子ソース超X から成り立つ ChemiSTEM のケイ素のドリフトの探知器の技術に、 FEI の新しい EDX の検出システム (SDD)基づき、; サンプルがタイムにデータの相応の改善と 10 回までに交換した後熱平衡の時間を減らす MultiLoader (tm) のサンプル処理; そして電子エネルギー損失の分光測定の速度および感度を改善する新しい FS-1 電子 (EELS)エネルギー損失の分光計; SmartCam のリモート・コントロールカメラ、長命の液体窒素の供給、および多くのような他の機能拡張と同様。

「信頼できる、万能 S/TEM の革命的な分析的な速度、スループットおよび使い易さが重大なとき、 Tecnai Osiris は理想的な解決」、状態 Edwards です。

Tecnai Osiris S/TEM はすぐに命令のために使用できます。 より多くの情報のために、訪問して下さい: www.fei.com

Last Update: 13. January 2012 20:17

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