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S/TEM Rápido, Fácil de usar Aumenta Dramàtica a Produtividade em Aplicações da Fabricação do Semicondutor

Published on July 20, 2009 at 8:52 AM

Empresa de FEI (Nasdaq: FEIC), um fornecedor principal dos sistemas da imagem lactente e de análise da atômico-escala, anunciou hoje a liberação da exploração de Tecnai Osiris (TM)/do microscópio elétron da transmissão (S/TEM), entregando a velocidade e o desempenho analíticos revolucionários. Inclui a tecnologia nova do ChemiSTEM de FEI, que reduz o momento para o traço elementar do grande campo de visão das horas às actas. O Tecnai Osiris é projectado combinar esta produção analítica da descoberta com a acessibilidade excepcional para cumprir as exigências para o volume alto industrial e os laboratórios de investigação do multi-usuário.

A tecnologia patente-pendente de ChemiSTEM permite o Tecnai Osiris de conseguir um factor de 50 ou mais realces na velocidade do traço elementar dispersivo do raio X da energia (EDX), combinando avanços técnicos na geração do feixe com as mudanças disruptivas na detecção de sinal de EDX. O Tecnai Osiris é construído em uma plataforma projetada maximizar a produtividade e a rentabilidade do investimento na análise do volume alto.

Tony Edwards, o vice-presidente superior de FEI de divisões do mercado, adiciona, “O Tecnai Osiris endereça as necessidades de nossa pesquisa e de clientes industriais que colocam a importância crescente na análise elementar da composição e o traço de todas as amostras, mas até aqui, não poderia encontrar um S/TEM com a velocidade e a acessibilidade analíticas exigidas para apoiar esta exigência. Por exemplo, a diminuição de continuação em tamanhos do dispositivo e em proliferação de materiais novos na fabricação do semicondutor, e a aparência de mais amostras com composição desconhecida em instalações de investigação do multi-usuário conduzem a necessidade para um S/TEM que fornece a acessibilidade da analítica de EDX uma velocidade de traço elementar comparável à imagem lactente da HASTE.”

Edwards adiciona, “O Tecnai Osiris foi projectado encher esta diferença actual no mercado fornecendo o traço elementar a grande campo--vista nas actas em vez das horas, e sem a necessidade para um operador altamente treinado na analítica complexa. Esta acessibilidade é estendida mais pela relação de controle remoto nova de SmartCam, que permite peritos de fornecer a orientação remota no multi-usuário ou facilidades industriais aos operadores menos experientes.”

A linha de Tecnai tem uma longa história do desempenho e a confiança como uma ferramenta do laborioso em aplicações industriais. O Tecnai Osiris, uns 200 quilovolts (kV) S/TEM, continua a tradição de Tecnai com a adição de inovações técnicas numerosas, incluindo: ChemiSTEM, que compreende a fonte proprietária do elétron do brilho alto de X-FEG e Super-x, sistema de detecção novo do EDX de FEI baseou na tecnologia do Detector da Tracção (SDD) do Silicone; Manipulação da amostra de MultiLoader (TM) que reduz o tempo térmico da equilibração depois que a amostra troca em dez vezes com as melhorias proporcionais nos tempo-à-dados; e o espectrómetro novo da perda de energia do elétron FS-1 que melhora a velocidade e a sensibilidade da espectrometria (EELS) da perda de energia do elétron; e também outros realces, tais como a câmera de controle remoto de SmartCam, a fonte do nitrogênio líquido da longa vida, e o mais.

“Quando a velocidade, a produção e a acessibilidade analíticas revolucionárias em um S/TEM seguro, multifacetado são críticas, o Tecnai Osiris é a solução ideal,” estados Edwards.

O Tecnai Osiris S/TEM está disponível para pedir imediatamente. Para mais informação, visite por favor: www.fei.com.

Last Update: 13. January 2012 21:49

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