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FEI 收到 Magellan 極其高分辨率 SEM 瓦赫寧恩大學的訂單

Published on July 20, 2009 at 7:57 PM

FEI 公司 (那斯達克: FEIC),基本縮放比例想像和分析系統一位主導的提供者,今天宣佈了 Magellan™極其高分辨率掃描電子顯微鏡 (XHR SEM) 的銷售額對瓦赫寧恩大學,荷蘭。 Magellan 是提供高處理量是典型的 SEM 技術 SEMs 的唯一的系列,子毫微米解決方法在低加速的電壓,當保留這種時靈活性和易用。

根據阿德里 van Aelst,經理,瓦赫寧恩電子顯微鏡術中心,瓦赫寧恩大學, 「Magellan XHR SEM 將擔當一個重要想像和分析工具在我們的顯微學實驗室。 它將使我們對子毫微米,高分辨率 SEM 想像擴大我們的 SEM 分析在低壓和在四周和低溫。 低壓想像的 Magellan 的組合與高分辨率功率對分析非常小和脆弱的表面結構是重要的」。

高分辨率 SEM 傳統上要求使用更高的加速的電壓為了減少色像差的射線擴展的作用。 然而,更高的光束能源可能損壞這個範例,并且降低解決方法和這個信號的表面特異性作為這條射線在表面下深深地擊穿,特別地在輕要素生物材料。 Magellan 提供在全方位的子毫微米解決方法射線能源,從少於一千伏 (kV)給 30kV,允許敏感生物範例高分辨率,超結構想像。 同樣重要,它如此執行,无需強加另外的約束給這個範例或增加可操作的複雜。

「與 Magellan, FEI 設計了單獨在選件類的 SEM」,總經理說馬修哈里斯, FEI 的和生命科學分部副總裁。 「它補充 FEI 為超結構想像,包括高端 TEM 細分市場的巨人 Krios™和在 DualBeam™細分市場的 Helios NanoLab™提供的其他主導的技術。 現在,與 Magellan,我們做生命科學的一個實用的事實研究的高處理量 SEM 想像生物範例」。

哈里斯補充說, 「我們是喜悅的 Magellan XHR SEM 由獨立 R&D 雜誌陪審團和編輯與 「2009 R&D 100 證書的』認可了。 此證書認可為研究在去年介紹的 100 個最技術重大的產品」。

Magellan XHR SEM 位於在新的基數大廈的瓦赫寧恩電子顯微鏡術中心在大學。 這個系統被發運了到瓦赫寧恩大學在第一個星期 2009年 7月期間。

Last Update: 24. January 2012 22:03

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