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輔導者圖像擴展在臺灣積體電路製造公司參考流和技術包括的工具 10.0

Published on July 23, 2009 at 8:18 PM

Mentor Graphics Corporation (那斯達克: MENT) 今天宣佈它擴展了套在臺灣積體電路製造公司參考流和技術包括的輔導者工具 10.0。 膨脹的 Mentor® 跟蹤技術支持提前複雜集成電路的功能核實, netlist 對GDSII 28nm 集成電路的實施,與普遍存在的 Calibre® 實際核實的更加嚴密的綜合化和 DFM 平臺和工具為格式意識測試故障診斷。 另外,此最近介紹的輔導者跟蹤也解決與輔導者工具的低功率設計為功能核實、集成電路實施和集成電路測試。

「輔導者圖像繼續擴展其參考流課程通過功能核實、安排和途徑、實際核實和硅測試報道從系統水平的總集成電路設計週期,以及提供的新的解決方法例如低功率、製造的可變性和硅產量分析」,高級主任說 S.T. Juang,設計在臺灣積體電路製造公司的基礎設施市場營銷的。

參考流 10.0 輔導者跟蹤在許多區域提供新的功能,包括在臺灣積體電路製造公司參考流的第一個輔導者實施解決方法,奧林匹斯山SoC™安排和途徑系統。 對於先進的集成電路實施,這個奧林匹斯山 SoC 系統有新的功能解決在籌碼差異、 28nm 運輸路線和低功率設計:

  • 先進的基於階段的 OCV 分析和優化 - 設置另外基於階段的 OCV 重視幫助減少悲觀并且啟用更加快速的設計關閉。
  • N28 運輸路線控制 - 為完全提供 28nm 技術支持 netlist 對GDSII 流,包括技術支持這個 28nm 透明半節點。
  • 弄亂功率域 - 在使壅塞減到最小和減少層次結構更改的需要的同一個電壓域的支持多個樓面佈置圖。
  • UPF 分層結構低功率自動化 - 為產生設計員更加極大的靈活性的基於 UPF 的,低功率設計提供自頂向下和自下向上技術支持。

在奧林匹斯山 SoC 和口徑平臺內的設計為製造功能被擴展和緊密地集成論及製造在 28nm 的以遠可變性問題和:

  • Litho 熱點修理 - 經過使奧林匹斯山 SoC 安排和途徑工具自動地修理口徑 LFD™工具檢測的 litho 熱點改進產量。
  • DMx 裝載快速匯合計時和 ECOs 的 - 這個奧林匹斯山 SoC 系統調用與臺灣積體電路製造公司的 VCMP 模擬程序一起使用) 的口徑 CMPAnalyzer 工具 (分析其影響的厚度差異對規定期限。 奧林匹斯山 SoC 工具也支持分層結構,遞增和規定期限主導的金屬裝載流,極大改進產量和減少悲觀。
  • 細胞索引意識位置 - 減少尋址通過定量的壅塞和速度細胞的更多空間與困難針存取。
  • 電子 DFM - 口徑 xRC™和口徑 CMPAnalyzer 產品集成允許被模擬的厚度信息合併到寄生提取結果裡驅動準確電路仿真。 這為更加高效的壁角模擬也提供一個解決方法和統計分析通過統計寄生情報給輔導者 Eldo® 電路模擬程序。

另外,口徑 nmDRC 和第 2 和 3D 系統的口徑 nmLVS 產品服務停止工作實際核實在 (SIP)成套設計的在參考流 10.0。

參考流 10.0 在更好的故障檢測、電源意識測試和故障診斷的 TestKompress® 和 YieldAssist™產品包括新的功能:

  • 嵌入多個檢測 ATPG - 增量橋梁沒有任何增量的故障檢測在模式範圍或測試時間。
  • 格式意識診斷 - 消滅錯誤橋梁/開放嫌疑犯,提高診斷解決方法,并且建立有效產量分析的一個基礎。
  • 低功率 ATPG - 減少功率在掃描測試期間使用現有的時鐘脈衝門的恆定裝載減壓裝置和電源意識控制所有階段。

參考流 10.0 也包括從 Questa® 的先進的功能核實功能,并且 0-In® 複雜集成電路的被改進的驗證的平臺設計。

  • 以技術支持為特色 IEEE Std. 1801-2009™ UPF 和 IEEE Std. 1800-2005™ SystemVerilog 的基於標準的解決方法。
  • 驗證先進的功率管理電路及早在設計流的集成低功率模擬和正式功能。
  • 複雜時鐘域橫穿的靜態和動態核實在標準和低功率模式下巡迴保證正確的操作。

「在臺灣積體電路製造公司的參考流的完全輔導者設計對硅跟蹤 10.0 允許我們對我們的相互客戶』 28nm 的大挑戰演講,包括低功率設計,并且核實、大規模 SoC 實施,製造可變性和有效測試和產量分析」,輔導者圖像說 Walden C. Rhines、主席和 CEO。 「與 28nm 的行業轉移處理也存在新的技術挑戰,輔導者在解決的一個唯一位置。 我們與臺灣積體電路製造公司的接近的協作允許我們關閉在設計員和鑄造廠之間的循環有幫助我們的客戶獲得他們的產品快速地銷售與高性能和更加極大的可靠性的工具的」。

Last Update: 24. January 2012 22:44

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