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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

Titan G2 Stellt Neuen Leistungs-Benchmark Mit Auflösung Unten auf 70 Picometers ein

Published on July 27, 2009 at 8:17 AM

FEI-Firma (Nasdaq: FEIC), ein führender Anbieter von Atom-schuppe Darstellungs- und Analyseanlagen, kündigte heute die Freigabe der Scannen G2/Durchstrahlungselektronenmikroskop des Titanen (TM) (S/TEM) Familie an, die zweite Generation der revolutionären Titanplattform der Firma eröffnend -- das leistungsfähigste handelsübliche Mikroskop der Welt. Der Titan G2 enthält einige innovative Technologieblöcke, um Auflösungen an 70pm (0,7 Ångström) im STAMM und in TEM unten zu entbinden und so bietet das entscheidende in Abweichung-korrigierter S-/TEMleistung an.

Dominique Hubert, Vizepräsident FEIS und Generaldirektor der Forschung Vermarkten Abteilung, hinzufügt, „der TEM-Markt waren geleistete routinemäßige UnterÅngström Auflösung mit der Titanplattform im Jahre 2005. Sie hat Forscher aktiviert, die Sonderkommandos zu sehen, die vorher nie mit zahlreichen führenden wissenschaftlichen Papieren gesehen werden, um seinen Erfolg in der Materialforschung zu bezeugen. Die zukünftige Familie des Titan-G2 ist jetzt angekommen, und sie erweitert weiter die Leistungsgrenzen beim Beibehalten der Titanphilosophie, um Materialwissenschaft zuerst zu setzen. Für unsere Abnehmer bedeutet dieses die Kombination tiefer UnterÅngström Auflösung mit der Fähigkeit, die meiste wesentliche Information über die breiteste Musterkollektion zu montieren.“

Hubert fügt hinzu, „Flexibilität ist in den Materialien Forschung und Analyse Schlüssel. Mit Titanen G2, können Benutzer die Leistung, die Anwendung und die Informationen wählen, die für ihr Material optimiert werden. Wir haben weiter die minimale Beschleunigungsspannung unten auf 60 KV, (kV) in Erwiderung auf intensive Forschungszinsen an den Niederspannungsmikroskopieergebnissen ausgedehnt, die auf der Titanfamilie der ersten Generation erzielt werden. Die breiteste erhältliche Hochspannungsreichweite 60-300 KV, das vom Titanen G2 angeboten wird, erlaubt unseren Abnehmern, die beste Wahl für jede Probe zu treffen.“

Die Familie des Titan-G2 60-300 bietet die Wahl Fühler- und Csbildkorrektur der sphärischen Aberration (Cs) der der zweiten Generation an, und in der falschen Konfiguration, entbindet sie 80pm festgelegte Auflösung in TEM- und STAMM-Operation. Mit dem Zusatz von eigenen Technologieblöcken des Romans FEI, wie einer Elektronenquelle der hohen Helligkeit, einem Monochromator und einem Umwelt-getrennten Mikroskopgehäuse (Titan3 (TM) G2 60-300), verbessert festgelegte Auflösung zu 70pm entweder in den STAMM- oder TEM-Modi. Diese Konfiguration entbindet die entscheidende Leistung der Werbung S/TEM und stellt Sätze in der Ortsauflösung, Energieauflösung für Analytics und Hochspannungsreichweite ein. Weiter wird die Umwelt-getrennte Konfiguration mit einer eindeutigen, voll-Fernoperationsfähigkeit ausgerüstet, einem ideal für die Wartung des Mikroskops unter stabilen Bedingungen und kann für das Teilen der Ergebnisse in der Istzeit über einem kooperativen Team auch verwendet werden, das über einigen Einbauorten ausgebreitet wird.

„Der Titan G2 kann eine neue Generation von Ergebnissen in der Mikroskopie wirklich entbinden,“ sagte Mike Scheinfein, leitender Technologiebeamter FEIS. „Möglicherweise ist der aufregendste Aspekt der entscheidenden Leistung G2 nicht seine UnterÅngström Auflösungsfähigkeit, aber die Tatsache, dass er beispiellose Empfindlichkeit und Präzision auf dem unter-Atomniveau auch entbindet. Unsere Abnehmer und Partner, die uns helfen, diese neuen Technologien zu prüfen, haben gezeigt bereits, dass sie Durchbruchmikroskopieergebnisse aktivieren, wie einzelner Atombefund über einer breiten Reichweite des Periodensystems und quantitative Mikroskopie mit experimenteller Präzision auf dem Niveau 5pm.“

Last Update: 13. January 2012 23:41

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