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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

Benchmark Neuf de Performance de Positionnements du Titan G2 Avec la Définition Vers Le Bas à 70 Picometers

Published on July 27, 2009 at 8:17 AM

Compagnie de FEI (Nasdaq : FEIC), un premier fournisseur des systèmes de représentation et d'analyse d'atomique-échelle, a aujourd'hui annoncé la release de la Famille de la lecture G2 du Titan (TM)/microscope électronique de boîte de vitesses (S/TEM), inaugurant la seconde génération de la plate-forme révolutionnaire du Titan de la compagnie -- le microscope disponible dans le commerce le plus puissant du monde. Le Titan G2 comporte un certain nombre de modules novateurs de technologie afin de fournir des définitions vers le bas à 70pm (0,7 Angströms) dans la CHEMINÉE et le TEM, de ce fait offrant l'éventuel dans la performance aberration-rectifiée de S/TEM.

Dominique Hubert, le vice président de FEI et le directeur général de la Recherche Lancent la Division sur le marché, ajoute, « Le marché de TEM étaient définition courante permise de sous-Angström avec la plate-forme de Titan en 2005. Elle a permis à des chercheurs de voir des petits groupes jamais non avant vus avec de nombreux principaux articles scientifiques pour témoigner sa réussite dans la recherche de matériaux. La Famille de la deuxième génération du Titan G2 a maintenant obtenu, et elle augmente davantage les limites de la performance tout en mettant à jour la philosophie de Titan pour mettre la science des matériaux d'abord. Pour nos abonnées, ceci signifie combiner la définition profonde de sous-Angström avec la capacité de rassembler la plupart d'information documentaire sur le domaine le plus grand des échantillons. »

Hubert ajoute, la « Souplesse est les matériaux recherche et analyse. Avec le Titan G2, les utilisateurs peuvent choisir la performance, l'application et l'information optimisées pour leur matériau. Nous avons davantage étendu la tension de accélération de minimum vers le bas à 60 kilovolts (kV), en réponse à l'intérêt fort de recherches pour des résultats de microscopie de basse tension obtenus sur la famille de Titan de première génération. Le domaine disponible le plus grand de tension élevée de 60-300 kilovolts offerts par le Titan G2 permettra à nos abonnées d'effectuer le meilleur choix pour chaque échantillon. »

La Famille du Titan G2 60-300 offre le choix de la correction de la seconde génération de sonde de sphérique-aberration (Cs) et d'image de Cs, et dans la configuration de base, elle fournit la définition spécifique par 80pm dans le fonctionnement de TEM et de CHEMINÉE. En plus des modules nouveaux de technologie propriétaire de FEI, tels qu'une source d'électron d'intense luminosité, un monochromateur et une enceinte environnemental-d'isolement de microscope (Titan3 (TM) G2 60-300), la définition spécifique s'améliore à 70pm en modes de CHEMINÉE ou de TEM. Cette configuration fournit la performance éventuelle du message publicitaire S/TEM, réglant des dossiers dans la résolution spatiale, la définition d'énergie pour l'analytique et le domaine de tension élevée. De Plus, la configuration environnemental-d'isolement est équipée capacité d'une seule, de plein-distant de fonctionnement, d'idéales pour mettre à jour le microscope dans des états stables, et peut également être utilisée pour partager les résultats en temps réel en travers d'une équipe de collaboration qui est écartée en travers d'un certain nombre d'emplacements.

« Le Titan G2 peut vraiment fournir un rétablissement neuf des résultats dans la microscopie, » a dit Mike Scheinfein, officier en chef de la technologie de FEI. « Peut-être l'aspect le plus passionnant de la performance éventuelle de G2 n'est pas sa capacité de définition de sous-Angström, mais le fait qu'il fournit la sensibilité et la précision sans précédent au niveau plus petit que l'atome aussi bien. Nos clients et partenaires nous aidant à tester ces technologies avancées ont déjà prouvé qu'ils activent des résultats de microscopie de découverte, tels que le dépistage unique d'atome en travers d'une large gamme de table périodique, et la microscopie quantitative avec la précision expérimentale au niveau de 17h. »

Last Update: 13. January 2012 22:15

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