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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

Benchmark di Prestazione degli Insiemi del Titano G2 Nuovo Con Risoluzione Giù a 70 Picometers

Published on July 27, 2009 at 8:17 AM

Società di FEI (Nasdaq: FEIC), un fornitore principale dei sistemi di rappresentazione e di analisi del atomico-disgaggio, oggi ha annunciato la versione della Famiglia di scansione G2 del Titano (TM)/del microscopio elettronico della trasmissione (S/TEM), inaugurante la seconda generazione della piattaforma rivoluzionaria del Titano della società -- il microscopio disponibile nel commercio più potente del mondo. Il Titano G2 incorpora una serie di moduli innovatori della tecnologia per consegnare le risoluzioni giù a 70pm (0,7 Angstrom) sia in GAMBO che in TEM, così offrendo l'ultimo nella prestazione aberrazione-corretta di S/TEM.

Dominique Hubert, il vice presidente di FEI ed il direttore generale della Ricerca Commercializzano la Divisione, aggiunge, “Il servizio di TEM erano risoluzione sistematica permessa dell'sotto-Angstrom con la piattaforma del Titano nel 2005. Ha permesso ai ricercatori di vedere i dettagli non veduti mai prima con i numerosi articoli scientifici principali per testimoniare il suo successo nella ricerca dei materiali. La Famiglia di prossima generazione del Titano G2 ora è arrivato e più ulteriormente amplia i limiti della prestazione mentre mantiene la filosofia del Titano per mettere la scienza dei materiali in primo luogo. Per i nostri clienti, questo significa la combinazione della risoluzione profonda dell'sotto-Angstrom con la capacità di raccogliere la maggior parte delle informazioni dei materiali sul più vasto intervallo dei campioni.„

Hubert aggiunge, “la Flessibilità è digita i materiali la ricerca e l'analisi. Con Titano G2, gli utenti possono scegliere la prestazione, l'applicazione e le informazioni ottimizzate per il loro materiale. Più ulteriormente abbiamo esteso la tensione accelerante di minimo giù fino 60 chilovolt (kV), in risposta ad interesse intenso della ricerca nei risultati di microscopia di bassa tensione ottenuti sulla famiglia del Titano della prima generazione. Il più vasto intervallo disponibile di alta tensione di 60-300 chilovolt offerti dal Titano G2 permetterà che i nostri clienti operino la migliore scelta per ogni campione.„

La Famiglia del Titano G2 60-300 offre la scelta della correzione di seconda generazione della sonda di sferico-aberrazione (Cs) e di immagine del Cs e nella configurazione bassa, consegna la risoluzione specificata 80pm sia nell'operazione del GAMBO che di TEM. Con l'aggiunta dei moduli brevettati della tecnologia del romanzo FEI, quali una sorgente dell'elettrone di alta luminosità, un monocromatore e un sistema di chiusura ambientale-isolato del microscopio (Titan3 (TM) G2 60-300), la risoluzione specificata migliora a 70pm in GAMBO o nei Modi TEM. Questa configurazione consegna l'ultima prestazione dell'annuncio pubblicitario S/TEM, impostante le registrazioni nella risoluzione spaziale, la risoluzione in energia per l'analisi dei dati e l'intervallo di alta tensione. Più Ulteriormente, la configurazione ambientale-isolata è fornita di una capacità del pieno-periferico e unica di operazione, di ideali per il mantenimento del microscopio nelle circostanze stabili e può anche essere utilizzata per la divisione dei risultati nel tempo reale attraverso un gruppo di collaborazione che è sparso attraverso una serie di posizioni.

“Il Titano G2 può vero consegnare una nuova generazione di risultati nella microscopia,„ ha detto Mike Scheinfein, ufficiale principale della tecnologia di FEI. “Forse l'aspetto più emozionante di ultima prestazione di G2 è la non sua capacità di risoluzione dell'sotto-Angstrom, ma il fatto che consegna la sensibilità e la precisione senza precedenti al livello sotto-atomico pure. I Nostri clienti e partner che ci aiutano a verificare queste tecnologie avanzate già hanno indicato che stanno permettendo ai risultati di microscopia dell'innovazione, quali singola rilevazione dell'atomo attraverso una vasta gamma di tabella periodica e microscopia quantitativa con precisione sperimentale al livello di 5 del pomeriggio.„

Last Update: 13. January 2012 23:03

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