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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

巨人 G2 設置與下來解決方法的新的性能基準到 70 個微微米

Published on July 27, 2009 at 8:17 AM

FEI 公司 (那斯達克:FEIC),基本縮放比例想像和分析系統的一位主導的提供者,今天宣佈了巨人 (tm) G2 掃描/傳輸電子顯微鏡 (S/TEM) 系列的版本,開始公司的革命巨人平臺的第二代 -- 世界的最強大的商業可用的顯微鏡。 巨人 G2 合併一定數量的創新技術模塊為了提供解決方法下來到 70pm (0.7 埃) 在詞根和 TEM,因而提供最終在變型被更正的 S/TEM 性能。

多米尼克休伯特, FEI 的副總統和研究的總經理在 2005年銷售分部,添加, 「TEM 市場是與巨人平臺的買得起的定期子埃解決方法。 它使研究員發現詳細資料以前從未看到以許多導致的科學論文作證其在材料研究的成功。 下一代巨人 G2 系列現在到達了,并且它進一步擴展性能限額,當維護巨人哲學首先時放置材料學。 對於我們的客戶,這意味結合深刻的子埃解決方法以這個能力收集關於範例的最清楚的範圍的多數物料信息」。

休伯特補充說, 「靈活性是關鍵的在材料研究和分析。 巨人 G2,用戶能選擇為他們的材料和信息優選的性能、應用。 我們對 60 千伏在低壓在第一代 (kV)巨人系列得到的顯微學結果上進一步擴大了最小數量加速的電壓下來,以回應強烈的研究興趣。 巨人提供的 60-300 kV 的最清楚的可用的高壓範圍 G2 將允許我們的客戶做出每個範例的最佳的選擇」。

巨人 G2 60-300 系列提供第二代球狀變型 (電纜敷設船) 探測和電纜敷設船圖像更正選擇,并且在這種基本配置,它提供 80pm 在 TEM 和詞根運算的指定的解決方法。 增加小說 FEI 所有權技術模塊,例如一個高亮度電子來源、單色儀和環境查出的顯微鏡封入物 (Titan3 (tm) G2 60-300),指定的解決方法在詞根或 TEM 模式下改善對 70pm。 此配置提供最終商務 S/TEM 性能,創下在空間分辨率、能量分辨率邏輯分析方法的和高壓範圍的記錄。 進一步,這種環境查出的配置用一唯一,充分遠程操作能力,理想裝備對維護顯微鏡在穩定的情況下,并且可能為共享結果也使用 在一定數量的地點間分佈的一個合作小組間的實時。

「巨人 G2 能正確地提供結果的新一代在顯微學的」, FEI 的首席技術軍官說麥克 Scheinfein。 「或許 G2 最終性能的最扣人心弦的方面是沒有其子埃解決方法功能,然而這個情況它提供史無前例的區分和精確度在這個亞原子的級別。 我們的幫助我們的客戶和合作夥伴測試這些先進技術已經向顯示他們啟用突破顯微學結果,例如在各種各樣的這個週期表間的唯一原子檢測和與實驗精確度的定量顯微學在這個 5pm 級別」。

Last Update: 24. January 2012 22:44

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