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Funcionamiento de Maximización X-Máximo de TEM

Published on July 30, 2009 at 9:22 AM

El Detector X-Máximo revolucionario de la Desviación del Silicio de la área extensa de los Instrumentos de Oxford (SDD) está disponible ahora para el TEM analítico. La capacidad de manejar alto registro valora en un ambiente libre del nitrógeno líquido, combinado con el software de INCAEnergy TEM, se asegura que X-Máximo maximizará el funcionamiento de un TEM.

  • el sensor 80mm2 garantiza que Sean los altos registros que dan funcionamiento analítico excelente hacia abajo a y que lo incluyen. Esta sensibilidad ofrece el potencial para el análisis de nano-partículas y de otras nano-características.
  • En contraste con detectores del Si (Li), la resolución excelente se mantiene a los tipos del alto registro sobre 100,000cps. Estos tipos más rápidos de la adquisición permiten la correspondencia y los linescans en muestras más gruesas donde los altos registros harían normalmente el detector del Si (Li) retractarse o el obturador al cierre. No hay necesidad de rechazar el haz actual. Las correspondencias y los linescans De Alta Calidad de la Radiografía se pueden cerco mucho más rápidamente.
  • Máximo es peltier enfriado y no requiere ningún nitrógeno líquido que permita que el detector enfríe hacia abajo en segundos y por lo tanto está siempre listo para el análisis. No tiene ninguna pieza móvil o LN2 de ebullición para causar la vibración y una diapositiva motorizada se utiliza para quitar el detector de alto flux de electrón en modo inferior del mag.

TEM X-Máximo es seguro, conveniente y respetuoso del medio ambiente. La geometría se ha optimizado para adaptarse a la mayoría del TEMs.

” Los detectores X-Máximos 80mm2 han revolucionado análisis del EDS en la nano-escala en SEM,” Director de Producto Global comentado de Neil Rowlands EDS en los Instrumentos de Oxford, “Nuestros resultados usando el detector X-Máximo de TEM han mostrado que podemos lograr la mejoría importante similar en el funcionamiento para el TEM.”

Last Update: 13. January 2012 20:31

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