Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

X-maximum Maximaliserende Prestaties van TEM

Published on July 30, 2009 at 9:22 AM

GebiedsSilicium van de Instrumenten van Oxford is de revolutionaire x-Maximum Detector van de Afwijking (SDD) van het het grote nu beschikbaar voor analytische TEM.

  • 80mm2 de sensor waarborgt hoge tellingen die uitstekende analytische prestaties geven neer aan en met inbegrip van Ben. Deze gevoeligheid biedt potentieel voor analyse van nano-deeltjes en andere nano-eigenschappen aan.
  • De detectors In tegenstelling tot van Si (Li), wordt de uitstekende resolutie gehandhaafd aan hoge tellingstarieven over 100,000cps. Deze snellere aanwinstentarieven staan toe in kaart brengend en linescans in dikkere steekproeven waar de hoge tellingen detector normaal de van Si (Li) om of het blind aan het sluiten zouden veroorzaken in te trekken. Er is geen behoefte om de straalstroom af te wijzen. Hoog - de kaarten van de kwaliteitsRöntgenstraal en linescans kunnen sneller worden verzameld.
  • Maximum is meer peltier gekoeld en vereist geen vloeibare stikstof die de detector om in seconden toestaat af te koelen en daarom is het altijd klaar voor analyse.

X-maximum TEM is veilig, geschikt en milieuvriendelijk. De meetkunde is geoptimaliseerd om het meeste TEMs aan te passen.

De“ x-maximum detectors 80mm2 hebben EDS analyse van de nano-schaal in SEM hervormd,“ becommentarieerde Manager van het Product van Neil Rowlands de Globale EDS bij de Instrumenten van Oxford, „Onze resultaten die de x-Maximum detector TEM met behulp van hebben aangetoond dat wij gelijkaardige significante verbetering van prestaties voor TEM kunnen bereiken.“

Last Update: 13. January 2012 23:36

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit