TEM X 最大最大化的性能

Published on July 30, 2009 at 9:22 AM

牛津仪器的革命 X 最大大地区硅偏差探测器 (SDD)为分析 TEM 现在是可用的。 这个能力处理高计数在一个液氮自由环境里对估计,结合与 INCAEnergy TEM 软件,保证 X 最大将最大化 TEM 的性能。

  • 80mm2 传感器保证包括高的计数产生非常好的分析性能下来对和是。 此区分提供在对纳诺微粒和其他纳诺功能的分析的潜在。
  • 与 Si (李) 探测器对比,非常好的解决方法被维护以在 100,000cps 的高计数费率。 这些更加快速的购买速度准许在高计数通常将造成 Si 的更加厚实的范例的映射和 linescans (李) 探测器缩回或对关闭的快门。 没有需要拒绝这条射线当前。 优质 X-射线映射和 linescans 可以更加迅速地收集。
  • 最大的是塞贝克冷却并且不需要让这台探测器在几秒钟内变冷静的液氮并且它总是准备好分析。 它没有运动机件或导致振动和动力化的下跌的煮沸的 LN2 在低 mag 模式下用于从高电子通量去除这台探测器。

X 最大 TEM 是安全,方便和不伤环境的。 几何被优选配合多数 TEMs。

” X 最大 80mm2 探测器改革了在纳诺缩放比例的 EDS 分析在 SEM”,被评论的尼尔 Rowlands 全球 EDS 产品管理器在牛津仪器, “我们的使用 X 最大 TEM 探测器的结果向显示我们可以有所在性能的相似的重大的改善 TEM 的”。

Last Update: 13. January 2012 16:39

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit