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TEM X 最大最大化的性能

Published on July 30, 2009 at 9:22 AM

牛津儀器的革命 X 最大大地區硅偏差探測器 (SDD)為分析 TEM 現在是可用的。 這個能力處理高計數在一個液氮自由環境裡對估計,結合與 INCAEnergy TEM 軟件,保證 X 最大將最大化 TEM 的性能。

  • 80mm2 傳感器保證包括高的計數產生非常好的分析性能下來對和是。 此區分提供在對納諾微粒和其他納諾功能的分析的潛在。
  • 與 Si (李) 探測器對比,非常好的解決方法被維護以在 100,000cps 的高計數費率。 這些更加快速的購買速度准許在高計數通常將造成 Si 的更加厚實的範例的映射和 linescans (李) 探測器縮回或對關閉的快門。 沒有需要拒绝這條射線當前。 優質 X-射線映射和 linescans 可以更加迅速地收集。
  • 最大的是塞貝克冷卻并且不需要讓這臺探測器在幾秒鐘內變冷靜的液氮並且它總是準備好分析。 它沒有運動機件或導致振動和動力化的下跌的煮沸的 LN2 在低 mag 模式下用於從高電子通量去除這臺探測器。

X 最大 TEM 是安全,方便和不傷環境的。 幾何被優選配合多數 TEMs。

」 X 最大 80mm2 探測器改革了在納諾縮放比例的 EDS 分析在 SEM」,被評論的尼爾 Rowlands 全球 EDS 產品管理器在牛津儀器, 「我們的使用 X 最大 TEM 探測器的結果向顯示我們可以有所在性能的相似的重大的改善 TEM 的」。

Last Update: 24. January 2012 23:24

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