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檢測更多的納米粒子,加快由大量收購

Published on July 30, 2009 at 9:26 AM

現在, 牛津儀器公司的市場領先的自動化功能和粒子分析系統與新的圖像採集硬件INCAmicsF +提供更快,更準確的數據採集。

INCAmicsF +包括新的快速響應微處理器(FRM)技術檢測到更小的粒子,至少快3倍。結合革命性X - MAX大面積矽漂移探測器,功能分析,現在可以在短的時間內完成。測量取樣時間,現在可以在幾分鐘而不是小時。

“自動化功能檢測,並在掃描電鏡分析是一個重要的技術在許多應用領域,包括金沙江,夾雜物鋼,汽車發動機,磁盤驅動器和環境監測,荷蘭,應用在牛津儀器 NanoAnalysis經理說:”詹姆斯。 “使用FeatureMax,我們已經能夠檢測出更多的納米粒子,加快由大量的收購,在這些成果的精度和生產力將提供很大的好處,在所有這些應用程序和更多的。”

Last Update: 3. October 2011 11:25

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