Издания Отпусков JEOL Новые Объясняют Теорию и Деятельность SEM для По Заведенному Порядку Воображения и Элементного Анализа

Published on August 11, 2009 at 11:40 PM

JEOL, ведущий поставщик высокого разрешения, Электронные Кинескопы Скеннирования высокой эффективности (SEM) и атомные Просвечивающие Электронные Микроскопы разрешения (TEM), начинало 2 новых издания которое объясняют теорию и деятельность SEM для по заведенному порядку воображения и элементного анализа.

Эти 2 новой книги можно загрузить от вебсайта JEOL США (jeolusa.com) под платой Ресурсов, или путем щелкать на http://tiny.cc/SEMAZ и http://tiny.cc/QASEM. Они полезный ресурс для пользователей послушника SEM или любое учя основная деятельность SEM.

«SEM: Электронный Кинескоп A к Z Скеннирования - Основное Знание для Использования SEM,» объясняет основные главы деятельности, дисплей изображения, роль вторичных и backscattered детекторов электрона, и систему вакуума. Дополнительное разъяснение SEM включает влияние края, влияние ускоряя ход напряжения тока, влияние освещения детекторов вторичных и backscatter электрона, методы для улучшать разрешение изображения, преимущества разных видов электронных пушек, элементный анализ, и подготовку образца.

«SEM Q&A,» вопросы о ответов специфические наиболее часто спрашиваемые во время демонстраций и тренировки: как установить образцы порошка, выбирая ускоряя ход напряжение тока, стереоскопические методы замечания, и больше.

Эти документы заменяют 2 популярное, многолетние книги JEOL, «Направляющий Выступ к Просматривать» и «Введение к Миру SEM.»

Last Update: 13. January 2012 21:51

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit