JEOL的领先供应商，高分辨率，高性能的扫描电子显微镜（SEM）和原子高分辨透射电子显微镜（TEM），已经开发出两种新的出版物，解释常规成像和元素分析的理论和操作的SEM 。
这两个新的书籍可以下载JEOL美国网站下的“资源”选项卡（jeolusa.com），或通过点击http://tiny.cc/SEMAZ和http://tiny.cc/QASEM 。他们是有用的资源为教育统筹局局长或任何教学的基本扫描电镜操作的新手用户。
“教育统筹局局长：扫描电子显微镜A到Z - 使用扫描电镜的基本知识，解释说：”基本操作的校长，图像显示，中学和背散射电子探测器的作用，和真空系统。教育统筹局局长进一步解释，包括边缘效应，加速电压的影响，中学和背散射电子探测器，提高图像分辨率的技术，不同类型的电子枪，元素分析，样品制备利益的照明效果。
“扫描电镜Q＆A”，回答了演示和培训期间最经常遇到的具体问题：如何安装粉末样品，选择加速电压，立体观测技术，和。
这些文件替换两个流行的，长期JEOL书籍，“扫描指南”介绍的SEM世界。“