JEOL，高分辨率，高性能掃描電子顯微鏡和基本解決方法傳輸 (SEM)電子顯微鏡的主導的供應商 (TEM)，開發了說明 SEM 原理和運算定期想像和元素分析的二個新刊物。
這兩本新書可以從 JEOL 美國網站 (jeolusa.com) 被下載在資源選項下，或者通過點擊在 http://tiny.cc/SEMAZ 和 http://tiny.cc/QASEM。 他們是 SEM 的新手用戶的一種有用的資源或任何人教的基本的 SEM 運算。
「SEM ： 掃描電子顯微鏡 A 到 Z - 基礎知識為使用 SEM」，解釋運算基本的首席，圖像顯示、附屬和 backscattered 電子探測器的角色和真空系統。 SEM 的進一步說明包括邊緣影響、加速的電壓的影響，附屬和背景散射的電子探測器的照明改進分辨率的作用，電子槍的不同的類型的技術，福利，元素分析和範例準備。
「SEM Q&A」，在演示和培訓期間經常被問的答復特定問題： 如何掛接粉末範例，選擇加速的電壓，立體鏡觀察技術和多。
這些文件替換二普遍，長年的 JEOL 書、 「一個指南對瀏覽」和 「簡介 SEM 世界」。