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扫描微波从 Agilent 技术胜利 R+D 100 证书的显微学模式

Published on August 13, 2009 at 8:24 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣布其扫描微波显微学模式 (SMM 模式) 为与其 5420 个和 5600 个基本强制显微镜的使用 (AFM)被命名了 R+D 100 证书赢利地区。 这些有名望的证书的接收人由独立陪审团和 R+D 杂志编辑最技术上选择按照 100 个重大的产品在去年介绍到这个市场。 Agilent SMM 模式是与 AFM 的 nanoscale 空间分辨率结合微波向量网络分析仪的被校准的电子评定功能的一个创新技术。

“Agilent 荣幸获得此唯一评定技术的一个 R+D 100 证书”,操作管理员说杰夫琼斯, Agilent 的 AFM 设备的在杂货商,亚利桑那 “SMM 模式将是在半导体材料的评估的一个非常有用的工具,并且也有在生物和材料研究的应用”。

SMM 模式,给 AFM 探测缩放比例带来向量电子测试的网络分析仪提供的未清区分下来第一次,研究半导体所有选件类,无需要求氧化物层。 新的技术启用复杂阻抗 (阻力和电抗),被校准的电容、被校准的掺杂物密度和地势评定。 除从事在半导体之外,玻璃、聚合物、陶瓷和金属, SMM 模式让研究员进行铁电,电介质和 PZT 材料的高区分调查。 有机影片、膜和生物范例的研究可能也受益于 SMM 模式。

第 47 个每年 R+D 100 证书将正式存在一次颁奖宴会在奥兰多, Fla.,在 11月 12日。 证书接收人一个完整的目录,包括关于每赢取的创新的详细资料,是可用的在 www.rdmag.com。

从 Agilent 技术的 AFM 手段

Agilent 技术提供研究的高精密度,模件 AFM 解决方法,行业和教育。 例外全世界技术支持由有经验的应用科学家和技术支持人事部提供。 Agilent 的前进 R+D 实验室保证创新,易用 AFM 技术的持续的,及时的简介和优化。

Last Update: 13. January 2012 15:16

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