Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

掃描微波從 Agilent 技術勝利 R+D 100 證書的顯微學模式

Published on August 13, 2009 at 8:24 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣佈其掃描微波顯微學模式 (SMM 模式) 為與其 5420 個和 5600 個基本強制顯微鏡的使用 (AFM)被命名了 R+D 100 證書贏利地區。 這些有名望的證書的接收人由獨立陪審團和 R+D 雜誌編輯最技術上選擇按照 100 個重大的產品在去年介紹到這個市場。 Agilent SMM 模式是與 AFM 的 nanoscale 空間分辨率結合微波向量網絡分析儀的被校準的電子評定功能的一個創新技術。

「Agilent 榮幸獲得此唯一評定技術的一個 R+D 100 證書」,操作管理員說傑夫瓊斯, Agilent 的 AFM 設備的在雜貨商,亞利桑那 「SMM 模式將是在半導體材料的評估的一個非常有用的工具,并且也有在生物和材料研究的應用」。

SMM 模式,給 AFM 探測縮放比例帶來向量電子測試的網絡分析儀提供的未清區分下來第一次,研究半導體所有選件類,无需要求氧化物層。 新的技術啟用複雜阻抗 (阻力和電抗),被校準的電容、被校準的摻雜物密度和地勢評定。 除從事在半導體之外,玻璃、聚合物、陶瓷和金屬, SMM 模式讓研究員進行鐵電,電介質和 PZT 材料的高區分調查。 有機影片、膜和生物範例的研究可能也受益於 SMM 模式。

第 47 個每年 R+D 100 證書將正式存在一次頒獎宴會在奧蘭多, Fla.,在 11月 12日。 證書接收人一個完整的目錄,包括關於每贏取的創新的詳細資料,是可用的在 www.rdmag.com。

從 Agilent 技術的 AFM 手段

Agilent 技術提供研究的高精密度,模件 AFM 解決方法,行業和教育。 例外全世界技術支持由有經驗的應用科學家和技術支持人事部提供。 Agilent 的前進 R+D 實驗室保證創新,易用 AFM 技術的持續的,及時的簡介和優化。

Last Update: 25. January 2012 00:43

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit