速度、正確さおよび入手可能性の劇的な改善を用いる完全自動化された分析

Published on September 2, 2009 at 8:13 AM

FEI の会社 (NASDAQ: FEIC)、高解像イメージ投射の一流の提供者および解析システムは、今日 2 つの専用されていたスキャンの電子顕微鏡のリリースおよび (SEMs)射撃の残余 (GSR) の自動解析のための新しいソフトウエアパッケージを発表しました。 法廷の科学者は犠牲者および容疑者からの残余に一致させるのに GSR の分析を使用します。 新しい GSR S50 および GSR F50 SEMs は新たに解放されたマグナムびん (tm) GSR のソフトウェアを含み、速度、正確さおよび入手可能性の劇的な改善を完全自動化された分析に与えるためにハードウェアを特別修正しました。

速いのための法廷の実験室の必要性に対応するように 「これらの新しいシステムとりわけ設計されています信頼できる分析」、はポール Scagnetti、副大統領および FEI の企業部の総務部長を言いました。 「GSR の分析は長く、退屈なプロセスである場合もあります生死の決定をするためにけれども結果は頻繁に使用されます。 S50 および F50 は完全にオペレータ・エラーのための機会を減らす分析プロシージャを自動化します。 システムは正確な結果の専用確認ルーチンを含んでいます。 さらに、 SEM のイメージ投射機能そして機能の最適の使用は、ビーム現在のブスターのような、より速く与えます、より反復可能な結果」。

GSR の分析は高解像 SEM イメージ投射および元素構成を定めるために残余の粒子を取付けるのに X 線の分光測定を使用します。 低い真空のモードのヘルプの画像の光沢が無いサンプルへの GSR S50 の能力はサンプル保全を維持します。 GSR F50 フィールド放出ソースはより高い空間分解能を提供し、より速くのためのより小さい点により多くのビーム流れを、より精密な X 線分析入れます。

両方のシステムに含まれている粒子のイメージ投射および検出プロセスを制御するのに X 線システムを使用する慣習的なアプローチより大いに速い方法である新しいマグナムびん GSR のソフトウェアは粒子を取付けるのに SEM のネイティブイメージ投射機能を使用します。 特別設計されていたビーム現在のブスターは (BCB)データ収集 X 線の間に分析の速度そして精密を改善するためにビーム流れを高めます。 価格性能比の最適化を助けるためシステムは両方とも Bruker Corporation および EDAX からの最新の高いカウントのレートのケイ素のドリフトの X 線の探知器と完全に対応する。 それらはまた ENFSI の実力テストの最新の標準配置を使用する組み込みの確認プロシージャを含んでいます。

Last Update: 13. January 2012 16:09

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