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與戲劇性改進的全自動的分析在速度、準確性和支付能力

Published on September 2, 2009 at 8:13 AM

FEI 公司 (那斯達克:FEIC),高分辨率想像一位主導的提供者和分析系統,今天宣佈了二臺投入的瀏覽的電子顯微鏡版本 (SEMs)和對槍響殘滓 (GSR) 的自動分析的一個新的軟件包。 法庭科學家使用 GSR 分析符合從受害者和嫌疑犯的殘滓。 新的 GSR S50 和 GSR F50 SEMs 包括新被發行的大酒瓶 (tm) GSR 軟件并且特殊修改硬件提供全自動的分析以在速度、準確性和支付能力的戲劇性改進。

「這些新的系統特別地被設計處理法庭實驗室的需要對快速,可靠的分析」,總經理說保羅 Scagnetti,副總統和 FEI 的行業分部。 「GSR 分析可以是一個長和繁瑣的進程,結果是常用的做出生與死決策。 S50 和 F50 完全地自動化減少操作員錯誤的分析程序機會。 系統包括準確結果的專用的驗證程序。 另外,對 SEM 的想像功能和功能的最佳的使用,例如射線當前助推器,快速地產生,更加可重複的結果」。

GSR 分析使用高分辨率 SEM 想像設置殘滓微粒和 X-射線光譜確定他們的基本構成。 對圖像未上漆的範例的 GSR S50 能力在低真空模式幫助保留範例完整性。 GSR F50 場致發射來源提供更高的空間分辨率并且放更多射線當前到快速的地一個更小的地點,更加準確的 X 光分析。

新的大酒瓶 GSR 軟件,包括在兩個系統,使用 SEM 的當地想像功能設置微粒,比常規途徑是一個更加快速的方法使用 X-射線系統控制微粒想像和檢測進程。 一臺特殊被設計的射線當前助推器 (BCB)增加射線當前在數據收集的 X-射線期間改進這個分析的速度和精確度。 要幫助優選價格/性能,兩個系統與從 Bruker Corporation 和 EDAX 的最新的高計數費率硅偏差 X-射線探測器是完全兼容的。 他們也包括使用 ENFSI 熟練程度測試的最新的標準佈局的固定驗證程序。

Last Update: 25. January 2012 02:03

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