Posted in | Nanoanalysis

Предварительные Методы для Характеризации Материалов

Published on September 7, 2009 at 9:48 AM

Исследование и Рынки, ведущий источник для исследования международного рынка и данные по рынка, объявили добавление «Выдвинутые Методы для отчета о Характеризации Материалов» к их предлагать.

В Наше Время, импрессивно большое количество мощных методов характеризации используется физиками, химиками, биологами и инженерами для того чтобы разрешить аналитически проблемы исследования; специально те отнесенные к исследованию свойств новых материалов для предварительных применений. Хотя немного доступных книг которые общаются с такими экспириментально методами, они или слишком исчерпывающие и покрывают очень немногие методы или слишком элементарны для того чтобы обеспечить твердую основу для учить использовать метод характеризации. Сверх Того, такие книги обычно над-подчеркивают подход к учебника: необходимо полны теоретических принципиальных схем и математически выводов, и снимать практически инструкцию требовали для того чтобы позволить пришельцев использовать методы.

Главная задача присутствующей работы поэтому обеспечить ключевую информацию которая достаточна для того чтобы позволить читателя унести независимые научно-исследовательские работы используя эти методы характеризации. Сжатый текст не только включает классическое Огибание, Спектроскопические и Микроскопично методы но также выдвинутые современные методы как спектроскопия аннулируемости поситрона (PAS), малоугольный разбрасывать нейтрона (SANS), малоугольный разбрасывать Рентгеновского Снимка (SAXS) и другие. Работа состоит из некоторых 20 глав; каждое предназначенное к определенному методу, и в форме составления лекций поставленного преданными исследователями имея обширный опыт в использовании определенного метода. Каждая хорошо-составленная глава состоит из кратко введения к принципам деятельности, обширный справкам предпосылки и сводке потенциала метода; плюс свои ограничения. Отдельно раздел посвящен к измерительному оборудованию; с точными схемами для каждого компонента. Другие разделы описывают опасности которые могут сопроводить физические измерения, как те отнесенные к пределам, точности и точности чувствительности; и также практически затруднения ые beginners (возможными бульварами внесения ошибки, выбора детектора, разрезов, тарировки, режима шаблонизации Etc.) плюс полезные подсказки для отжимать эти затруднения. Примеры приняты от самый современный зон исследования и обсужены подробно для того чтобы показать как определенный метод можно использовать для того чтобы разрешить такие предварительные проблемы.

Эта книга поэтому обеспечит aspiring студента столб-студент-выпускника/исследования с флейвором большое количество методов характеризации, и исследователя которые по заведенному порядку используют эти методы теперь будут иметь всесторонний и сподручный указатель справочника к важным работая формулам и практически подсказкам. Окончательно, техники уже-специалиста будут обновленный относительно самых последних применений методов Это вполне уникально и неоцененное издание.

Last Update: 13. January 2012 19:46

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit