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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

Porción del Especialista de las Aplicaciones de JEOL como Científico Que Visita en la Universidad de Lehigh

Published on September 10, 2009 at 10:07 PM

Con apenas el tacto correcto para ajustar la óptica de los microscopios ultraaltos de la resolución, las Aplicaciones de JEOL que el Dr. Toshi Aoki del Especialista está ayudando a clientes optimizan las capacidades potentes de la proyección de imagen y del análisis de su emisión de campo de JEOL TEMs. Comenzando en septiembre, él también servirá como Científico Que Visita en la Universidad de Lehigh, con oportunidades co-de publicar en nuevos descubrimientos mientras que pone el FE de 200 keV que TEM con Cs PROVIENEN el corrector con sus pasos.

La microscopia De alta resolución ha fascinado Aoki desde que él comenzó su educación en la ciencia material en la Universidad de Kumamoto en Japón. Para su trabajo del Ph.D. y del postdoctorado, él seleccionó la Universidad de Estado de Arizona para su programa bien conocido de la microscopia. Todavía impaciente para la comprensión redondeada de los instrumentos ellos mismos, él ensambló el Departamento de Servicio de TEM de JEOL LOS E.E.U.U. en 2004 y ha hecho desde entonces un experto en la Emisión de Campo TEM de la perspectiva de la dotación física así como de la perspectiva de las aplicaciones.

Desde entonces, Aoki ha ayudado a muchos clientes con la optimización del funcionamiento de su Emisión de Campo TEMs para sus aplicaciones específicas. Mientras Que ayudaba con el entrenamiento en la Escuela de Lehigh de la Microscopia, él llevó a cabo mejoras al JEM-2200FS que está en la demanda para la investigación no sólo en campus del Belén, Pennsylvania, pero también con la operación alejada por los laboratorios de investigación exteriores. Ahora como Científico Que Visita sobre una base mensual, él trabajará con Christopher Kiely, Profesor y Director del Laboratorio de Nanocharacterization y la Escuela de Lehigh de la Microscopia, y Masashi Watanabe, Profesor Adjunto de la Ciencia Material y el Dirigir.

Aoki continuará apoyar a clientes del FE TEM y compartir su conocimiento así como el continuar de sus esfuerzos en el entrenamiento de técnicos de JEOL en las técnicas avanzadas, para las cuales él ha demostrado un talento excelente.

Cuando Aoki ensambló JEOL LOS E.E.U.U., Pat McGinley, VP y GM del Servicio, llenaba una necesidad después de la introducción extensamente acertada del primer Microscopio Electrónico De la Transmisión de la Emisión de Campo de JEOL en los Estados Unidos. La emisión de campo TEM requirió diversas habilidades para la óptica de alta resolución y las capacidades analíticas de la instrumentación avanzada y de una base cada vez mayor de clientes llamaron buscar un nuevo nivel de soporte. Alguien de la experiencia de Aoki era un emparejamiento natural para JEOL.

“Toshi tenía un gran conocimiento de aplicaciones científicas, que habrían sido, en sí mismo, beneficioso a JEOL, pero él también quiso aprender los fundamentales del instrumento - él estaba interesado en la dotación física y cómo probarla,” McGinley explica. Aoki comenzó a aprender el instrumento de principio a fin trabajando en sitio con las personas de la instalación de JEOL. Su primera instalación lo llevó a Ecole Polytechnique en Canadá durante uno de los tiempos más fríos del año. Él ha utilizado desde entonces instalaciones y pruebas de aceptación múltiples, y ha escrito un manual para los métodos de prueba de aceptación que se pueden seguir fácilmente por los representantes técnicos de TEM en el campo.

“La primera parte de mi carrera en JEOL era entender el instrumento y cómo salir el mejor funcionamiento de ella, después pasa ese conocimiento conectado a los representantes técnicos,” Aoki dice. Cuando visité a Lehigh para ayudar con la Escuela de la Microscopia, encontré que mi experiencia me permitió mejorar el funcionamiento del corrector del VÁSTAGO. A este punto Lehigh preguntó que considero una posición del Científico Que Visita investigar mejorías al instrumento.” Estas técnicas de la mejoría se pueden aplicar al instrumento de Lehigh para optimizarlo para la proyección de imagen de alta resolución y las ANGUILAS y EDS. Su trabajo no sólo beneficiará a JEOL y Lehigh pero otros clientes que desean salir la mayoría de su FE TEM de JEOL.

Llenando el vacío entre el conocimiento teórico y la cara de la ingeniería del instrumento, la experiencia de Aoki combina dos profesiones. Su propia investigación sobre heteroestructuras y los nanostructures del semiconductor cavó en los Grupos II-VI (infrarrojo), III-V (galio), e IV los materiales, así como los nanotubes del carbón, las nano-partículas, los catalizadores, los puntos del quantum, quantum bien, y los nanowires.

Él asierra al hilo privilegiado para haber trabajado con los muchos microscopistas excepcionales en Juan M. Cowley Center para la Microscopia De alta resolución, incluyendo Profesor Ray Carpenter, miembro del comité para la tesis del Ph.D. de Aoki, y Profesor David J. Smith, su consejero de ASU de la tesis, que es también Presidente de la Sociedad de la Microscopia de América. Él ingriesa en cuenta a su mentor, Profesor Minoru Nishida de la Universidad de Kyushu en Japón, para mostrándoél lo que podría hacer un TEM. “Para poder detectar la información fina de los detalles, estructural, cristalográfica, química, y electrónica de materiales en un área muy pequeña - I pensó que era fantástico que con un instrumento usted puede hacer todo el eso.”

Con la introducción del nuevo JEOL Schottky/emisión de campo fría TEM con el Corrector integral del Cs, el ARM200F, Aoki también viajará a JEOL Japón para pasar tiempo aprendiendo las capacidades de un TEM con la resolución ultraalta de 80 picometers. Él ha logrado su propio sueño temprano en su carrera, trabajando con los microscopios más potentes del mundo, y continuará aumentar el nivel de la comprensión del estado mayor de la ingeniería del servicio de JEOL de ajustar de estos instrumentos del alto rendimiento.

Last Update: 13. January 2012 17:03

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