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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

Servizio dello Specialista di Applicazioni di JEOL come Ricercatori Ospiti al Lehigh University

Published on September 10, 2009 at 10:07 PM

Con appena il giusto tocco per regolare l'ottica dei microscopi ultraelevati di risoluzione, le Applicazioni di JEOL il Dott. Toshi Aoki dello Specialista che sta aiutando i clienti ottimizzano le capacità potenti dell'analisi e della rappresentazione della loro emissione di campo di JEOL TEMs. Cominciando a settembre, egualmente servirà da Ricercatori Ospiti al Lehigh University, con le opportunità co-di pubblicare sulle nuove scoperte mentre mette il TECNICO DI ASSISTENZA che di 200 KeV TEM con Cs STACCANO il correttore dal gambo con i sui passi.

La microscopia Di alta risoluzione ha affascinato Aoki da quando ha cominciato la sua formazione nella scienza dei materiali all'Università di Kumamoto nel Giappone. Per il suoi Ph.D. e lavoro di postdottorato, ha selezionato l'Arizona State University per il suo programma ben noto di microscopia. Ancora desideroso per comprensione arrotondata degli strumenti stesse, ha unito il Dipartimento di Servizio di TEM di JEOL U.S.A. nel 2004 e da allora è diventato un esperto nell'Emissione di Campo TEM dalla prospettiva del hardware come pure dalla prospettiva delle applicazioni.

Da allora, Aoki ha aiutato molti clienti con l'ottimizzazione della prestazione della loro Emissione di Campo TEMs per le loro applicazioni specifiche. Mentre assisteva alla formazione al Banco di Lehigh di Microscopia, ha apportato i miglioramenti al JEM-2200FS che è nella domanda della ricerca non solo a città universitaria di Betlemme, Pensilvania, ma anche con l'operazione remota dai laboratori di ricerca esterni. Ora come Ricercatori Ospiti su base mensile, lavorerà con Christopher Kiely, il Professor e Direttore del Laboratorio di Nanocharacterization ed il Banco di Lehigh di Microscopia e Masashi Watanabe, Professore Associato di Scienza dei Materiali e Costruire.

Aoki continuerà a supportare i clienti del TECNICO DI ASSISTENZA TEM ed a dividere la sua conoscenza come pure a continuare i suoi sforzi nella formazione dei tecnici di assistenza di JEOL nelle tecniche avanzate, per cui ha dimostrato un talento eccellente.

Quando Aoki ha unito JEOL U.S.A., Pat McGinley, VP e GM di Servizio, stava soddisfacendo un bisogno dopo l'introduzione ampiamente riuscita del primo Microscopio Elettronico Della Trasmissione dell'Emissione di Campo di JEOL negli Stati Uniti. L'emissione di campo TEM ha richiesto le abilità differenti per l'ottica di alta risoluzione e le capacità analitiche della strumentazione avanzata e di una base crescente dei clienti hanno chiamato il ricerca del livello di sostegno nuovo. Qualcuno dell'esperienza di Aoki era una corrispondenza naturale per JEOL.

“Toshi ha avuto una grande conoscenza delle applicazioni scientifiche, che sarebbero state, da sè, utile a JEOL, ma egualmente ha voluto imparare i fondamenti dello strumento - era interessato nel hardware e di come provarlo,„ McGinley spiega. Aoki ha cominciato ad imparare lo strumento dalla terra in su lavorando sul posto con i gruppi dell'impianto di JEOL. Il Suo primo impianto lo ha catturato a Ecole Polytechnique nel Canada durante l'uno dei tempi più freddi dell'anno. Da allora ha supportato gli impianti ed i test di accettazione multipli ed ha scritto un manuale per le procedure del test di accettazione che possono essere seguite facilmente dagli ingegneri di TEM nel campo.

“La prima parte della mia carriera a JEOL era di capire lo strumento e come ottenere la migliore prestazione da, quindi passa quella conoscenza sopra agli ingegneri,„ Aoki dice. Quando ho visualizzato Lehigh per assistere al Banco di Microscopia, ho trovato che la mia esperienza mi ha permesso di migliorare la prestazione del correttore del GAMBO. A questo punto Lehigh ha chiesto che considero una posizione dei Ricercatori Ospiti di studiare i miglioramenti allo strumento.„ Queste tecniche di miglioramento possono applicarsi allo strumento di Lehigh per ottimizzarlo per la rappresentazione di alta risoluzione ed ANGUILLE ed EDS. Il Suo lavoro non solo avvantaggierà sia JEOL che Lehigh ma altri clienti che desiderano ottenere il la maggior parte dal loro TECNICO DI ASSISTENZA TEM di JEOL.

Colmando la lacuna fra conoscenza teorica ed il lato di assistenza tecnica dello strumento, l'esperienza di Aoki combina due professioni. La Sua propria ricerca sulle eterostrutture e nanostructures a semiconduttore ha approfondito i Gruppi II-VI (infrarosso), III-V (gallio) ed IV materiali come pure nanotubes del carbonio, nano-particelle, catalizzatori, punti di quantum, buca di potenziale e nanowires.

Ritiene privilegiato per lavorare con i molti microscopisti eccezionali al John M. Cowley Center per Microscopia Di alta risoluzione, compreso il Professor Ray Carpenter, un membro del Comitato per la tesi del Ph.D. di Aoki ed il Professor David J. Smith, il suo Consigliere di ASU di tesi, che è egualmente Presidente della Società di Microscopia dell'America. Accredita il suo mentore, il Professor Minoru Nishida dell'Università di Kyushu nel Giappone, per mostrandogli che cosa un TEM potrebbe fare. “Per potere acquisire informazioni strutturali, cristallografiche, chimiche ed elettroniche fini dei dettagli, dei materiali molto in una piccola zona - la I ha pensato che era fantastica che con uno strumento potete fare tutto quello.„

Con l'introduzione di nuovo JEOL Schottky/emissione di campo fredda TEM con il Correttore integrato del Cs, il ARM200F, Aoki egualmente viaggierà a JEOL Giappone per passare il tempo imparante le capacità di un TEM con una risoluzione ultraelevata di 80 picometers. Ha raggiunto il suo proprio sogno presto nella sua carriera, lavorante con i microscopi più potenti nel mondo e continuerà a sollevare il livello di comprensione del personale dell'assistenza prevendita e postvendita di JEOL del regolarsi di questi strumenti di rendimento elevato.

Last Update: 13. January 2012 18:11

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