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Posted in | Microscopy | Nanobusiness

JEOL 應用作為參觀的科學家的專家服務理海大學的

Published on September 10, 2009 at 10:07 PM

優化的超離頻的解決方法顯微鏡光學正確的接觸, JEOL 應用 Toshi Aoki 博士幫助客戶的專家優選他們的 JEOL 場致發射 TEMs 的強大的想像和分析功能。 開始在 9月,他在新的發現也將擔當參觀的科學家在理海大學,以機會共同發布,當放置與電纜敷設船的 TEM 通過其步幅阻止糾正者的 200 keV FE 時。

自從他在熊本大學在材料學開始了他的教育在日本,高分辨率顯微學迷住了 Aoki。 对他的 Ph.D 和之後博士學位工作,他為其著名的顯微學程序選擇了亞利桑那州立大學。 熱切為對儀器的被舍入的瞭解,他在 2004年連接了 JEOL 美國的 TEM 供應部門和從那以後成為關於場致發射 TEM 的一位專家從硬件透視圖以及應用方面。

自那時起, Aoki 幫助了有優選的他們的他們的特定應用的場致發射 TEMs 性能許多客戶。 當協助培訓在顯微學時 Lehigh 學校,他做了改進對為研究是受歡迎的不僅在伯利恆,賓夕法尼亞校園的 JEM-2200FS,而且通過遙控操作由外部研究實驗室。 現在每月作為參觀的科學家,他從事與克里斯托弗 Kiely,顯微學 Nanocharacterization 實驗室的教授和主任和 Lehigh 學校和 Masashi 渡邊,材料學副教授和設計。

Aoki 將繼續支持 FE TEM 客戶和共享他的知識以及繼續他的在培訓 JEOL 服務工程師的工作成績先進的技術的,他展示了一種非常好的天分。

當 Aoki 連接了 JEOL 美國、帕特 McGinley,服務 VP 和 GM,在第一臺 JEOL 場致發射傳輸電子顯微鏡的廣泛成功的簡介以後滿足需要在美國。 場致發射 TEM 為高分辨率光學要求不同的技能,并且先進的手段和客戶一個生長基礎的分析功能叫尋找技術支持的一個新的級別。 某人 Aoki 的經驗是一位自然對手對於 JEOL。

「Toshi,單獨,有科學應用極大的知識,將是有利對 JEOL,但是他也要瞭解儀器的根本性 - 他是對硬件感興趣,并且如何測試它」, McGinley 解釋。 Aoki 開始通過從事從新瞭解儀器本地與 JEOL 安裝小組。 在其中一個年的最冷的時代期間他的第一安裝把他帶對 Ecole Polytechnique 在加拿大。 他從那以後支持多個安裝和驗收試驗和為可能由這個域的 TEM 工程師容易地跟隨的驗收試驗程序寫了指南。

「我的在 JEOL 的事業的第一個部分是瞭解儀器和如何使最佳的性能脫離它,然後傳遞該知識到工程師」, Aoki 說。 當我拜訪 Lehigh 協助解決與顯微學學校,我發現我的經驗使我改進詞根糾正者的性能。 這時 Lehigh 問我考慮一個參觀的科學家位置調查改善到儀器」。 這些改善技術可以適用於 Lehigh 儀器優選它高分辨率想像的和鰻魚和 EDS。 他的工作不僅將有益於 JEOL 和 Lehigh,但是希望其他的客戶使多數脫離他們的 JEOL FE TEM。

縮小理論上的知識和儀器之間的工程端的差距, Aoki 的經驗結合二個行業。 他對半導體異質結構的自己的研究和 nanostructures 探討了 II-VI (紅外), III-V (鎵) 和第IV組很好材料、以及碳 nanotubes、納諾微粒、催化劑、數量小點、數量和 nanowires。

他感到特許從事了與許多未清顯微鏡家在 ASU 的約翰 M. 高分辨率顯微學的 Cowley Center,包括 Ray Carpenter 教授,委員會成員 Aoki 的 Ph.D 論文的和大衛 J. 史密斯,他的論文顧問教授,也是美國顯微學社團總統。 他在日本相信他的輔導者,九州大學 Minoru Nishida 教授,顯示他的什麼 TEM 可能執行。 「能獲取材料的細致的詳細資料,結構上,晶體,化工和電子信息在一個非常小範圍 - 是意想不到的 I 認為與一臺儀器您能執行所有那」。

新的 JEOL 肖特基/冷場致發射 TEM 的簡介與集成電纜敷設船糾正者, ARM200F, Aoki 到 JEOL 日本也將移動花費時間瞭解 TEM 的功能與 80 個微微米的超離頻的解決方法。 他在這個世界上實現了他自己的夢想及早在他的事業,與最強大的顯微鏡一起使用和繼續提高 JEOL 的服務工程對優化的人員的瞭解的標準這些高性能儀器。

Last Update: 25. January 2012 02:44

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