从被确认的 Lorentz 解决方法的 PeakView 支持台湾积体电路制造公司的 iRCX 65nm 和 40nm 技术

Published on October 1, 2009 at 9:13 AM

Lorentz Solution, Inc.,在 2002年 ounded 开发和销售 EM 为高频率集成电路的设计和核实工具设计,今天宣布公司的重要产品 PeakView 被确认支持台湾积体电路制造公司的 iRCX 65nm 和 40nm 技术。

PeakView 是在节奏包括模型综合/自动格式生成、全波的 EM 模拟和在实际信息基础上的设计生成提取从工艺流程设计工具箱的 Virtuoso™平台内的一个集成基于 EM 的设计和核实环境 (PDK)。 iRCX 格式提供一个方便途径提供技术处理数据,并且保证其金属拓扑和电子特性在每块处理层间在实际物理结构基础上的详细 EM 分析和模型生成合格了阻力/电容/感应性。 统一的 iRCX 格式,台湾积体电路制造公司的客户可以减少工具评估时间。

高速集成电路小组今天使用 PeakView 部署在会议设计关闭的进攻性设计实践,不用在最近介绍的 PDKs 找到的有限可升级的图书馆课程约束。 这使台湾积体电路制造公司的客户有在扩展他们现有的 PDK 图书馆课程以及创建复杂设备的完全控制象平衡 - 不平衡变压器/变压器或者送电线用基于 EM 的准确性使用所有台湾积体电路制造公司的提前的进程。

“IRCX 鉴定程序使设计员有效选择预先具有资格的 EM 工具用在设置技术文件的最小的工作成绩”,设计服务说汤姆 Quan,营销副主任,在台湾积体电路制造公司的。 “我们的协作用 Lorentz 解决方法允许我们的相互客户迅速生成制造兼容被动结构使用我们先进的进程达到首次硅成功”。

“PeakView 为 RF 被开发了,并且容易地集成 EM 设计实践的高速模式设计员他们的集成电路设计流包括被动设备格式生成、综合和优化。 膨胀的 PeakView 更加进一步帮助分析与一个 ‘进行中的’途径的高速相关损伤在敏感净额以及包装相关问题”, Jinsong 赵, Lorentz 解决方法的 CEO 说。 “象 iRCX 鉴定和 EM 鉴定帮助的台湾积体电路制造公司的程序实现我们的公司的建立的远见提供完全,用户友好集成 EM 设计和核实流改善地址 RF 和高速模式需求使用台湾积体电路制造公司提前的进程”。

Last Update: 13. January 2012 11:51

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