PeakView洛倫茲解決方案認證支持台積電的IRCX 65納米和40納米技術

Published on October 1, 2009 at 9:13 AM

洛倫茲解決方案公司 ,在2002年ounded的發展和市場EM高頻IC設計的設計和驗證工具,今天宣布,該公司的旗艦產品PeakView已通過認證,以支持台積電的IRCX的65nm和40nm技術。

PeakView是EM為基礎的綜合設計和驗證環境,在Cadence的Virtuoso™平台,其中包括合成模式/自動佈局一代,全波電磁場仿真和模型生成的基礎上,從工藝設計套件(PDK)中提取的物理信息。 iRCX格式提供了一個便捷的方式,提供技術過程數據,並確保其金屬結構和電氣特性在每個過程層有合格的電阻 /電容 /電感的詳細的EM分析和基於實際的物理結構模型生成。隨著統一 IRCX格式,台積電的客戶可以減少工具的評估時間。

PeakView今天是使用高速IC隊部署進取的設計實踐,沒有約束的有限的可擴展的庫,在新推出的PDK產品在滿足設計收斂。這使得台積電的客戶,以擴大其現有的PDK庫產品,以及創建複雜的設備,如平衡 - 不平衡轉換器/變壓器或輸電線路與 EM基於精度,使用任何台積電的先進工藝的完全控制。

“IRCX資格認證程序,使設計人員能夠有效地選擇以最小的努力,通過資格預審的EM工具,在成立的技術文件,”湯姆說,泉,副主任,台積電設計服務營銷。 “我們與洛倫茲解決方案的合作,使我們共同的客戶提供快速生成製造兼容的被動結構,採用先進的工藝,實現第一次投片成功。”

“PeakView用於 RF和高速模擬設計,輕鬆地集成到他們的IC設計流程,包括無源器件佈局的一代,合成和優化 EM設計的做法。 PeakView進一步擴大,以幫助分析與高速有關的損傷“上飛”上敏感的蚊帳,以及包相關的問題的方法,說:“在勁松趙首席執行官洛倫茲解決方案。 “台積電像IRCX資格和EM資格的方案,有助於實現本公司的成立的眼光來提供一個完整的,用戶友好的集成EM設計和驗證流程,以更好地解決使用台積電先進工藝的RF和高速模擬要求。”

Last Update: 7. October 2011 10:25

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