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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Horiba は世界の国際的な特性構成から新しいパテントを受け取ります

Published on October 2, 2009 at 2:11 AM

世界の国際的な特性構成は HORIBA Instruments、粒度の測定器にサンプルの導入の間に素粒子の状態に乾燥した粒子のサンプルを分散させる装置のための Inc. に新しいパテントを与えました。

世界の国際的な特性構成は HORIBA Instruments、粒度の測定器にサンプルの導入の間に素粒子の状態に乾燥した粒子のサンプルを分散させる装置のための Inc. に新しいパテントを与えました。 典型的な器械では、ユーザーは測定の単位に渡されるサンプルの流動度を調整するために送り装置の単位にサンプルを配るホッパーにサンプルを置きます。 多くの場合、サンプル粒子は乾燥した状態の静電気の、磁気または他の同じような力が原因で一緒に付着させます。 結果により測定器がサンプルを測定し、分析するように試みるときエラーの原因となる場合があるサンプル分散およびサンプル流れの変動を引き起こすことができます。

最近特許を取られた乾燥した粒子供給装置はテストする企業で最も正確な乾燥した方法を作成する同質な基本的な状態および連続的なフローのレートの供給の粒子をよくすることができます。 HORIBA は Miroslav Pejcinovic、装置を設計した私達の社内標準を例証する革新の伝統を続けるためのエンジニアを祝います。

Last Update: 13. January 2012 13:25

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