Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Superresolution med mikroskop Systems fra Carl Zeiss

Published on October 17, 2009 at 7:40 PM

Med ELYRA, Carl Zeiss introduserer et produkt familie som gjør at superresolution PAL-M og SR-SIM mikroskopi-teknikker for å være omfattende bruk og individuelt kombinert for aller første gang. Dette gjør forskerne i biomedisinsk forskning til bilde cellulære strukturer merket med fluorescerende fargestoffer med maksimal romlig oppløsning under den klassiske diffraksjon grensen for mikroskoper, dvs. under 200 nanometer. Dette gir nye muligheter for analyse av romlige forholdet mellom den minste cellulære komponentene ned til den enkelte molekylet.

Med PAL-M og SR-SIM mikroskopi teknikker, tilbyr ELYRA mikroskop systemet superresolution utover den klassiske diffraksjon grensen på mikroskoper.

Systemet linjen består av tre mikroskop systemer: ELYRA S.1 (SR-SIM) er det første mikroskopet system for å tillate bruk av SR-SIM teknologi på grunnlag av en standard mikroskopstativet. Med ELYRA s.1, er PAL-M teknologi nå blir tilbudt kommersielt for første gang. Den ELYRA PS.1 kombinert system tillater den aller første kombinasjonen av de to teknologiene på samme stand, både med hverandre og med en laser scanning mikroskop. Dette betyr at et objekt kan avbildes med de tre LSM, SR-SIM og PAL-M teknikker på rad.

ELYRA gir brukerne mulighet til å erverve superresolution systemer på enten et "nøkkelferdig" eller modulære basis. De trenger ikke lenger å investere i ett svært spesialiserte og kostbare systemer. PAL-M teknologi gir den høyeste oppløsningen for tiden tilgjengelig mens de utestående funksjonen i SR-SIM-teknologien er den høye grad av fleksibilitet i valg av fargestoff. Dette betyr at begge superresolution metoder er tilgjengelige uten foregående begrensninger i fargestoff utvalg eller brukervennlighet.

Disse enestående egenskapene er gjort mulig av den nye laser widefield belysning med fullt motoriserte elementer for belysning i Total Internal REFLEXION (TIRF) og for superresolution strukturert belysning (SR-SIM). Electron multiplisere CCD garanterer svært sensitiv deteksjon. Intuitiv betjening og omfattende data-analyse er gjennomført med ZEN-programvaren.

Den optimale kombinasjonen for high-end forskning er tilbudt av ELYRA i forbindelse med Laser Scanning Microscope 780. Imidlertid kan PAL-M og SR-SIM også kombineres med LSM 710 laserskanning mikroskop.

Last Update: 26. October 2011 18:21

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit