Posted in | Nanoelectronics

Het Model van het Lawaai van de Transistor Verbetert de Nauwkeurigheid van de Voorspelling, Steunt het Voortdurende Schrapen van het Apparaat

Published on October 26, 2009 at 9:44 PM

De Onderzoekers van het programma van de Processen van het VoorEind (FEP) van SEMATECH hebben een uitvoerig model van het transistorlawaai geschikt ontwikkeld om tekortkenmerken uit lawaaigegevens met lage frekwentie in de geavanceerde transistors van de poortstapel te halen gebruikend zowel conventionele als nieuwe diëlektrica. Het voorgestelde model is een zeer belangrijke stap naar het identificeren van en het minimaliseren van tekorten om het agressieve apparaat schrapen te steunen. Resultaten van SEMATECH werden voorgesteld op de IEEE Geïntegreerde Workshop van de Betrouwbaarheid (IRW) over Donderdag, 22 Oktober, in Meer Tahoe, CA.

het lawaai met lage frekwentie - willekeurige schommelingen in apparatenstroom - is een groeiende zorg in de prestaties van geïntegreerde CMOS kringen, in het bijzonder aangezien de industrie gestaag apparaat schrapend voortzet en de nieuwe materialen worden geïntroduceerd. De wortel van het „lawaai“ is elektronen omhoog springend van het substraat in een tekort in diëlektrisch en achter. Het conventionele model voor lawaai met lage frekwentie, dat tot recente technologieknopen aanvaardbaar was, werkt niet nu goed, zoals die door NIST onderzoekers wordt aangehaald vroeger op het jaar (ref=IEEE Augustus 2009 Volume 46 van het Spectrum, pg 16) - de modelvoorspelling voor carrier vangt tarieven is weg door 1000x of meer. Om deze kwestie te behandelen, hebben de onderzoekers FEP van SEMATECH het concept „roosterontspanning“ rond een tekort aangewend; wanneer het tekort een last (elektron) opsluit, „voelen“ de naburige kernen zijn potentieel van de Coulomb en verplaatsen hun positie om deze extra kracht lichtjes aan te passen &ndash namelijk „ontspannen“ zij rond het tekort. Deze ontspanning vereist een eindige hoeveelheid energie, die een barrière bedraagt die het tarief van vangst vertraagt.

Het gebruik van lawaaikarakterisering is van bijzonder belang aan de betrouwbaarheidsgemeenschap, waar het een waardevolle kenmerkende techniek in de ontwikkeling van halfgeleidermaterialen en apparaten is geworden. „Om lawaaiprestaties in diverse toepassingen te optimaliseren, moeten wij de processen kunnen nauwkeurig simuleren verantwoordelijk voor lawaai,“ bovengenoemde Gennadi Bersuker, projectleider van elektrokarakterisering en betrouwbaarheid bij SEMATECH. „Met het voorgestelde model, heeft de betrouwbaarheidsgemeenschap nu een middel om de atoomstructuur van de tekorten te identificeren, koppelt het toestaan verwerken terug en integratiegroepen om vermindering en verwijdering van de tekorten te vergemakkelijken.“

Michael Shur, Patricia W. en C. Sheldon Professor van Elektronika In Vaste Toestand bij Rensselaer Polytechnic Institute, zeiden dat het mechanisme van structurele die ontspanning van de vallen in MOSFETs door de groep SEMATECH wordt ontdekt de sleutel is aan het begrip van en het minimaliseren van lawaai en, vandaar, is van extreem belang om geavanceerde apparatenstructuren te schrapen. Het „werk SEMATECH verklaart verscheidene grootteordes verschil tussen oudere, zogenaamde, een tunnel gravende die modellen en het lawaai in geavanceerde CMOS met uiterst dunne oxydelagen wordt gemeten,“ zei Prof. Shur.

In samenwerking met lidbedrijven, universiteiten, nationale laboratoria, en leverancierspartners, ontwikkelen de kern technische teams van SEMATECH Fep- programma constant innovatieve technieken om diëlektrica hoog-k, metaalpoorten, hoge mobiliteitskanalen, en geavanceerde geheugentechnologieën uit te breiden.

Ongeveer SEMATECH:

meer dan 20 jaar, heeft SEMATECH® (www.sematech.org) globale richting geplaatst, flexibele samenwerking, toegelaten en overbrugde strategisch R&D aan productie. Vandaag, blijven wij versnellend de volgende technologierevolutie met onze nanoelectronics en te voorschijn komend technologiepartners.

Last Update: 13. January 2012 15:19

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit