Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

合作的 Agilent 与斯坦福大学测试 Nanoscale 设备新的选件类

Published on October 27, 2009 at 7:54 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣布它与在被设计的研究方案的斯坦福大学合作测试 nanoscale 设备新的选件类使用扫描探测显微镜和基本 (SPM)层证言的组合 (ALD)。 这个研究将启用 nanoscale 设备的迅速原型和描述特性有突破的在各种各样的应用的潜水艇 10 毫微米缩放比例。

“新颖的 nanostructures 将被制造,并且被分析的原地在此唯一 SPM-ALD 工具为了迅速地还原各种各样的下一代设备”,斯坦福大学说弗里茨 Prinz、教授和主席,机械工程。 “SPM-ALD 工具将使我们建立利用数量分娩作用当前在小的长度等级的设备,不可能获取与传统石版印刷方法的长度缩放比例。 这些设备可能用拥有非常空间分辨率的制造工具只建立”。

此程序着重 ALD 的综合化,一个薄膜技术有能力在厚度的子毫微米精确度上,与在驱动器的毫微米侧向解决方法 SPM 对原型和设备制造扩大扫描探测技术的功能。 历史上,电子设备性能用传统制造方法限制了,例如光学和电子束光刻,不可能极大提供功能解决方法在 20 毫微米以下。 然而,电子分娩的数量机械作用在设备的 10 毫微米或更小的结果在定性地不同现象跟在更大的设备看见的那些。 利用此数量分娩预测导致电子设备的新的示例。

“我们选择了此授予的斯坦福大学小组教授 Prinz 和被认可的专门技术的,并且在提出的研究和远期的接近的对准线 Agilent 的 SPM 商业之间”, Agilent 的主任说杰克 Wenstrand,大学关系。 在 Agilent 和斯坦福大学之间的工作是 Agilent 的大学关系程序的一部分,实现与大学的协作环球。 Agilent 支持科学与大学全世界通过一起使用处理授予和合作研究。

Last Update: 13. January 2012 09:41

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit