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CRAIC 기술은 QDI를 2010 PV Microspectrophotometer 소개합니다

Published on October 31, 2009 at 6:25 PM

CRAIC 기술, 주요한 제조자 및 UV 눈에 보이는 NIR 현미경의 microspectrometers는, 2010 PV microspectrophotometer QDI를 알리는 만족됩니다. QDI는 2010 PV 계기 전통적인 크리스탈 실리콘있다는 것을 및 기질 최고와 같은 광전지의 전송 그리고 반사율, 박막 다양성의 하나 또는 분대 측정하기 위하여 디자인됩니다. 방어적인 유리 조차와 집중 장치 모듈은 분석될 수 있습니다. QDI는 또한 2010 PV 사용자를 투명하기도 하고 불투명한 기질에 현미경 간색 지역의 박막 간격을 결정하는 가능하게 합니다. 이 강력한 공구는 또한 그밖 기능 다수를 비치하고 있습니다. 그것은 CRAIC 기술 소유 오염 화상 진찰 기능에 가공 오염물질을 찾아내고 확인하기 위하여 결합될 수 있습니다. 따라서, QDI는 광전지 기업에 유효한 도량형학 기계 사용에서 2010 PV 중요한 단계를 앞으로 나타냅니다.

"우리의 고객의 많은 것은 그들의 제품의 급속한 품질 관리를 위해 광전지 장치의 질을 시험하고 싶습니다. QDI는 말하는 Paul Martin 대통령, 박사를 많은 다른 광전지 장치의 다수 다른 양상을" 시험할 수 있는 강력하고, 유연한 도량형학 공구를 위한 고객 요구에 응하여 2010 PV microspectrophotometer 건축되었습니다.

완전한 QDI 2010 PV 해결책 결합은 정교한 소프트웨어에 microspectroscopy 사용자를 투과율, 반사력 및 냉광을 측정하는 가능하게 하기 위하여 진행했습니다. 그것은 또한 물자와 기질의 많은 모형의 전송 또는 반사율에 의하여 박막 간격을 결정할 수 있을 것입니다. 그것은 또한 집중 장치와 같은 PV 세포를 제조하기 위하여 이용된 분대의 많은 것에서 투과율 그리고 반사력을 측정하기 위하여 이용될 수 있습니다. CRAIC 기술의 융통성 때문에 디자인해, 지역을 100개 미크론 이상에서 전체에 구역 수색할 수 있습니다 미크론 보다는 보다 적게 간색하. 생산 환경을 위해 디자인해, 그것은 다수 쉽게 변경한 도량형학 조리법, 데이터 분석을 위한 새로운 필름 및 물자 뿐 아니라 세련시킨 공구 측정하는 기능을 통합합니다. 오염 분석과 같은 그밖 특징은 이 계기에 쉽게 추가됩니다.

QDI에 관하여 추가 정보를 위해 2010 PV microspectrophotometer와 그것의 응용 의 방문 www.microspectra.com.

CRAIC Technologies, Inc.는 자외선, 눈에 보이는과 가깝 적외선 지구에서 글로벌 기술 지도자에 의하여 집중된 microimaging 그리고 microspectroscopy 입니다. CRAIC 기술은 고객 지원에서 최상과 더불어 우리의 고객을 경청 및 사용할 수 있는 우수 및 기술 전문 기술을 통합하는 해결책을 실행해서 혁신적인 해결책을, 만듭니다. CRAIC 기술은 법정 과학, 건강 과학, 반도체, 지질학, 나노 과학 및 그의 응용이 고객 지원에 있는 정확도, 정밀도, 속도 및 베스트를 요구하는 재료 과학 시장에 있는 고객에게 해결책을 제공합니다.

2009년10월 31일 에 배치하는

Last Update: 13. January 2012 16:53

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