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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

JPK儀器公司宣布其納米表徵系統系列的最新會員

Published on November 10, 2009 at 6:46 AM

JPK儀器 ,一個世界領先的製造商,在生命科學的研究和軟物質nanoanalytic儀器,是很高興地宣布他們的納米技術表徵系統家族的最新成員:ForceRobot300,力單分子光譜的新標準。

JPK隊機器人 ® 300系統

隊光譜技術是一種單分子技術,使在納米尺度的分子間的相互作用的實時研究。來自原子力顯微鏡(AFM)的廣泛領域,力譜,直接解決了測量分子之間和國家內部的力量。靈敏度高到足以表徵分子間的相互作用,如單一蛋白質或一個單一的分子鍵力量展現力量。

如力光譜單分子技術取得有意義的結果,關鍵是結果的統計管理。這是新ForceRobot300技術提供了解決方案。自動設置和不斷調整提供數據收集的效率而集成光學技術的興趣,允許有針對性的測量分子位於的改善。這些因素,最高的數據質量和穩定性相結合,開放力的單分子光譜領域的結果的一個新的水平。

到現在為止,單分子的力量光譜是一個複雜的過程。頻繁手動校準和路線,以及與儀器的不斷運營商存在的必要性的規定,這是一個冗長的任務。有用的數據輸出為低,只有一個多小時,獲得的幾個適合的曲線緩慢。該 ForceRobot300解決這些問題作為一個專用工具的力量spectroscopist。

系統的關鍵是智能軟件納入實驗設計,數據採集和評估。可能會產生數以萬計的力曲線,並在幾個小時內評估。為了生產高品質的的曲線,需要特殊儀器與最低的本底噪聲和最嚴格的機械設計。通過集成與漂移電容位置傳感器,最小化徹底利用一個對稱的系統設計,確保最高的精度和儀器的穩定性。

該系統可以工作在單機模式(見照片),給予最大限度的訪問和靈活性樣品。另外,它可能會安裝一個倒置光學顯微鏡上,可同時支持武力光譜和熒光顯微鏡。兩個版本都可以選擇與定位階段。雖然基本機動階段將提供優於 1微米定位,精密測繪階段採用閉環控制噪音水平優於 0.3nm定位到約 1nm。

像所有JPK的先進儀器,ForceRobot300有許多進一步選項流體和溫度控制,以使最可重複性的結果。要了解更多信息,請訪問產品頁面下載了一本小冊子,並閱讀有關的各種應用。

Last Update: 3. October 2011 08:28

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