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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

克服的高濃度的樣品的Zeta電位測量中的一個重大障礙

Published on November 20, 2009 at 5:34 PM

一個新的應用程序的注意,自由上可用的馬爾文儀器的網站,介紹如何新ZEN1010高濃度的Zeta公司的市場領先的激光粒度儀納米粒子的表徵系統潛在的細胞,克服了一個測量的高濃度樣品的Zeta潛力的主要障礙。

以極難測量二氧化鈦作為一個例子,作者描述了試點工作,示範準確,可靠的澤塔集中,渾濁的懸浮電位測量。這種能力更比以前可能集中的樣本來測量 zeta電位是新ZEN1010細胞減少光學路徑長度,並已應用非常廣泛的材料。本應用筆記可以下載 www.malvern.com / titaniumdioxide

由於其高折射率,鈦白粉被廣泛用於作為一個產品,如油漆,塗料,造紙,食品和化妝品中的色素。為了達到最佳性能,必須妥善分散的二氧化鈦顆粒和懸浮保持,並用來研究分散行為的一個關鍵參數是zeta電位。使用激光多普勒電泳,通常需要的樣本,以透明技術參數的測量。然而,新的ZEN1010細胞功能,減少的光路的長度,測量高濃度樣品時,補償減少光散射檢測與標準的細胞經歷的問題。

雖然它是在用同樣的方式作為納米激光粒度儀的標準單元,ZEN1010允許健壯的Zeta電位測量在高度集中的樣本。需要較少的樣品稀釋,更加緊密地保存樣品的pH值和化學結構,更直接相關的zeta電位測量。許多膠體材料,在其原生狀態的測量樣品,避免了需要的往往是複雜的離心的和稀釋的程序需要保持樣品的完整性,這一點尤為重要。

下載和馬爾文在www.malvern.com網站上的其他應用筆記

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Last Update: 3. October 2011 15:15

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