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Carl Zeiss Realiza instalaciones iniciales de la Plataforma de Traslados + Buscar

Published on November 24, 2009 at 6:03 PM

Junto con clientes piloto varias, Carl Zeiss ha comenzado el desarrollo de aplicaciones para microscopía correlativa en el análisis de los materiales y realizar las instalaciones iniciales de la lanzadera de la plataforma + Buscar. El foco de atención es el análisis de las estructuras (por ejemplo, secciones pulidas), fracturas, y las partículas. La interacción continua de los microscopios óptico y electrónico ofrece ventajas de coste y tiempo para todas estas aplicaciones. En muchos casos, los exámenes previstos sólo son posibles en todo a través de una interfaz para microscopía correlativa.

Los científicos del Instituto ZHAW de los Materiales e Ingeniería de Procesos en Winterthur, Suiza, por ejemplo, se han encargado de describir lo más exactamente posible la "ausferritic" estructura de un bainítica fundición de grafito esferoidal y con el análisis de las precipitaciones y las inclusiones de material. Christof Scherrer científico explica: "En particular, con grandes muestras de pulido con los componentes estructurales en el rango micrométrico (grandes aumentos), microscopía correlativa es la única manera de reubicar a los mismos lugares, sin duda." Debido a sus características especiales, tales como resistencia a la tracción y resistencia al desgaste (dureza), este material se utiliza para engranajes y las piezas de los motores de combustión, por ejemplo.

Presentado por primera vez en la Conferencia de Microscopía en Graz, Austria, a principios de septiembre, el Servicio de traslado y Buscar interfaz para microscopía correlativa en el análisis de materiales es un desarrollo conjunto de la microscopía óptica, microscopía electrónica y las divisiones Central de Investigación de Carl Zeiss. "Este desarrollo fue muy bien recibido en Graz, y ha generado muchas sugerencias útiles que se han aplicado", dice el Gerente de Proyecto Martin Edelmann.

Shuttle & Find es una herramienta fácil de usar interfaz para la transferencia de las muestras y las imágenes entre una luz y un microscopio electrónico. Se conecta a los microscopios de luz en posición vertical e invertida de los descubrimientos de tipo estéreo, Axio Imager y Axio Observer con una platina motorizada con todos ZEISS actuales microscopios electrónicos de barrido, así como con las estaciones de trabajo ZEISS travesaño (una combi-nación de microscopio electrónico de barrido y un haz de iones enfocado para el procesamiento de material). La tarea principal de la interfaz es relocalizar con alta precisión en el microscopio electrónico de las regiones de interés marcados en el microscopio de luz (y viceversa). También es posible superponer las imágenes de los dos sistemas diferentes.

En paralelo a las instalaciones piloto de éxito de la primera, Shuttle & Buscar también estará disponible comercialmente.

Last Update: 3. October 2011 09:28

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