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デジタル波は第 20 記念日を祝います

Published on November 30, 2009 at 7:36 PM

マイクロのためのデジタル波、解決の提供者および nano 表面の度量衡学は 1989 年 11 月 14 日に、組み込まれ、第 20 記念日を祝っています。

デジタル波に表面の度量衡学で連続的な革新の歴史があります。 第 2 表面の分析のためのその最初ソフトウェアは 1991 年に 3D ソフトウェアのリリースによって 1990 年に、すぐに続かれて解放されました。 分析ソフトウェアおよびコントローラを両方統合するために 1993 で最初 OEM 署名する会社は主要な表面の度量衡学の器械の製造業者と契約を結びます。 今日デジタル波は名前が表面の度量衡学かのだれののように読む多くの一流の器械の製造業者のための確立された B2B パートナーです。 器械は会社の高リゾリューションの Nobis の色彩共焦点の間隔のゲージを含む多重斧そしてセンサーを、制御するための Volcanyon Technology® が支持する表面の分析のための会社の旗艦山の Technology® のソフトウェアプラットホームによって、場合によっては動力を与えられます。

これを分析して下さい!

世界の一流の器械の製造業者の多数からの Profilometers、光学顕微鏡およびスキャンのプローブの顕微鏡は山 Technology® のデジタル波の表面の分析ソフトウェアのプラットホームによって動力を与えられます。

最初は Apple マッキントッシュで動作して、会社の表面の分析ソフトウェアのプラットホームは 1996 年にマイクロソフト・ウインドウズ 95 に移行され、現在の名前、山 Technology® を与えられました。 今日それは Windows の最新バージョンの下で動作し、増加する今日の大きい測定のデータファイルをすぐに、また正確に分析する 64 ビットの処理パワーを開発します。 2D/3D 表面の profilometers、光学顕微鏡およびスキャンと互換性がある顕微鏡を厳密に調べて下さい新しい先端材料を研究し、機能パフォーマンスおよび品質を保証するのに、実験室および製造業者によって山 Technology® が世界的に使用されています。 そのアプリケーションは宇宙航空、自動車を含む多くのセクターに、化粧品、電子工学 (MEMS、 PCB)、エネルギー、医学、冶金学、ナノテクノロジー、プラスチック、印刷および半導体のセクターおよび多くの他及びます。 新規アプリケーションを、例えば ISO 25178 3D パラメータ実行する一貫して第 1 は本当の表面下の (興味の領域) 分析および表面の改革、山 Technology® の 4D 分析業界標準になりました。

「デジタル波データ収集によって測定からの表面の度量衡学の鎖のリンクすべてを、習得するあり、分析に」、に制御します一義的で学際的なチームが示されたクリストフィー Mignot、 CEO および共同出資者。 「私達のチームは度量衡学に技術的な専門家を、ソフトウエア工学、電子工学、光学および技術的なドキュメンテーションおよびローカリゼーション含めます。 最新の標準に合致し、最新の方法を組み込む解決の提供への私達の責任は ISO 標準委員会の私達の参加および国際的に評判が高い実験室との私達の台紙の Shasta の技術協同プログラムに反映されます。 私達は連続的な革新に私達のパートナーの現在そして未来の必要性を両方満たすために捧げられます。 ありがとうはです私達のパートナーがと過去の 20 年の私達の成功のための私達のチームが原因」。

Last Update: 13. January 2012 08:30

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