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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

As Tecnologias de Agilent Anunciam a Disponibilidade da Versão Aumentada DCM para o Teste de Nanomechanical

Published on December 1, 2009 at 6:07 PM

Agilent Technologies Inc., (NYSE: A) anunciou hoje a disponibilidade de uma versão aumentada de seu Módulo Dinâmico popular do Contacto (DCM) para o teste de materiais nanomechanical. O Agilent DCM II caracteriza uma capacidade mais alta da carga 3x (carga 30mN máxima); troca fácil da ponta para a remoção e a instalação rápidas de pontas características da aplicação; e uns 70 completos? escala de m do curso do indenter.

“O DCM II é projectado aperfeiçoar o teste nanomechanical para um grupo muito largo de materiais, tais como semicondutores, filmes finos, MEMs, revestimentos duros, filmes de DLC, compostos, fibras, polímeros, metais, cerâmica e matérias biológicos,” disse Jeff Jones, gerente de operações para a facilidade do nanoinstrumentation de Agilent em Chandler, o Arizona “Esta opção nova está o mais atrasado em uma série em curso de introduções inovativas da tecnologia visadas promovendo as capacidades da pesquisa dos usuários G200 e G300 Nano do Indenter de Agilent.”

O Agilent DCM II estende a escala da experimentação do carga-deslocamento para baixo ao nível de superfície do contacto. Com a opção de DCM II, o Indenter Nano G200 de Agilent e os usuários G300 podem estudar os nanômetros primeiros de um recorte na superfície de um material assim como dos mecânicos do pre-contacto. Usando métodos padrão, a definição do deslocamento do DCM II é determinada ser 0,2 picometers. Mais importante, o teste do real-mundo mostra que os níveis de ruído são tipicamente menos do que um ångström, assegurando a melhor definição de todo o indenter no mercado hoje. O Agilent DCM II tem o mais baixo assoalho do ruído de todo o instrumento de seu tipo.

O recorte de DCM II principal pode ser configurado para Indenters Nano novos ou existentes de Agilent. O suporte flexível da cabeça de DCM II fornece opções múltiplas da montagem de modo que o DCM II possa ser configurado para aplicações específicas.

Last Update: 13. January 2012 09:20

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