Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Technologie d'Andor et Compatibilité d'EMCCD-NanoWizard d'Offre d'Instruments de JPK

Published on December 2, 2009 at 9:12 PM

AP de Technologie d'Andor (Andor), un leader mondial dans les solutions scientifiques de représentation, de spectroscopie et de microscopie, ont aujourd'hui annoncé le soutien de tous les appareils-photo de la représentation EMCCD d'Andor dans des produits d'Instruments AG (JPK) de JPK pour la nanobiotechnologie.

En plus du soutien des appareils-photo performants de l'EMCCD d'Andor au logiciel de JPK, l'intégration vraie est obtenue entre la représentation de fluorescence d'une part et la représentation de NanoWizard® AFM de JPK ou les brucelles optiques de NanoTracker™ de l'autre. Les Scientifiques utilisant la fonctionnalité brevetée de DirectOverlay™ de JPK peuvent maintenant directement utiliser les images venant de leurs appareils-photo d'Andor EMCCD.

Comme exemple, le dépistage unique de fluorescence de molécule et la représentation de haute résolution d'AFM des protéines liées par ADN uniques est une application qui tire bénéfice vraiment de la combinaison des deux produits avancés de la représentation de la compagnie.

Les abonnées Existantes de JPK possédant déjà un appareil-photo d'Andor EMCCD peuvent améliorer leur système de JPK en achetant une plaque d'immatriculation pour la Trousse de Développement de Logiciel Linux d'Andor (SDK) ainsi que le gestionnaire d'Andor pour le logiciel de l'appareil-photo de JPK.

Avec l'inclusion du support complet pour des appareils-photo d'iXon+ EMCCD de Technologie d'Andor, les Instruments de JPK prépare le terrain pour des applications entièrement intégrées de fluorescence d'AFM et d'unique-molécule.

M. Colin Coates, le Chef de Produit de Représentation avec la Technologie d'Andor a dit, « Cette coopération neuve avec des Instruments de JPK représente la grande nouvelle aux utilisateurs mutuels de nos technologies performantes et à la communauté plus large de bio-représentation, offrant le potentiel amélioré d'interroger des environnements de nanoscale avec l'exactitude, la sensibilité et la spécificité. »

Last Update: 13. January 2012 11:13

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit