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Posted in | Nanoanalysis

Bruker N8 Titanos ora fornisce massima potenza spaziale Risoluzione

Published on December 8, 2009 at 5:41 PM

Bruker Nano ha annunciato oggi che il suo N8 Titanos ™ grandi campioni ispezione AFM è stato ulteriormente migliorato per fornire potenza massima risoluzione spaziale. Grazie alla sua tecnologia unica AFM ed eccezionale stabilità meccanica, la Titanos ora è stato dimostrato con scala atomica risoluzione sulla HOPG (grafite altamente orientata pyrolythic) su uno strumento di produzione in configurazione standard.

La N8 Titanos si è dimostrato ancora una volta come la piattaforma più precisa e stabile AFM per grandi campioni fino a 300 mm di diametro.

La N8 Titanos è stato sviluppato per l'ispezione di wafer da 300 mm, ed è anche in uso per la metrologia sui pannelli solari, maschere fotolitografia, schermi piatti, ecc Titanos 'ultra-preciso posizionamento xy-stadio utilizza senza contatto lineare motori, encoder ad alta risoluzione in vetro e un cuscinetto d'aria per un veloce, movimento campione riproducibile.

L'AFM Titanos è montato su un ponte solido granito sopra la piattaforma.
Tutti i sistemi offerti da AFM Bruker Nano impiegare Interferometry fibra ottica (FOI) di rilevamento come una caratteristica unica di raggiungere una risoluzione eccezionale anche su grandi campioni. "FOI offre una sensibilità superiore e una deflessione calibrato", spiega il Dr. Hans Fuss Achim, Chief Bruker Nano AFM Technology Officer. "I risultati ottenuti con i nostri AFMs sono altamente riproducibili grazie alla conoscenza esatta di tutti i parametri cruciali."

Dr. Frank Saurenbach, Vice Presidente per AFM a Bruker Nano ha commentato ulteriormente: "E 'incredibile vedere centinaia fase il Titanos' spostare di millimetri in pochi secondi, e poi operare con una tale stabilità e risoluzione di registrazione in ogni posizione di misura nuove. Siamo entusiasti di fornire il grande strumento di esempio AFM con il più alto potere di risoluzione disponibile sul mercato ".

La N8 Titanos può essere utilizzato come uno stand-alone, sistema automatico o in combinazione con un potente microscopio ottico. Essa si presenta come completamente accessibile R & S strumento, o può essere aggiornato ad un at-line sistema di produzione di ispezione.

Last Update: 25. October 2011 10:28

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