Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Partij-erker Biedt Vrije Evaluatie Van twee weken van J.A. alpha--SE Spectroscopische Ellipsometer van Woollam aan

Published on January 18, 2010 at 8:25 PM

Partij-erker is trots om een vrije evaluatie van twee weken van J aan te kondigen Woollam alpha--SE Spectroscopische Ellipsometer.

De nieuwe lijn Woollam van generatie Alpha- SE JA van ellipsometers komt nu met VIER invalshoeken voor modellerings complexe gelaagde steekproeven & ook een facultatieve vloeibare cel.

Dit ellipsometer maakt de metingen van SE snel en eenvoudig.

Alpha--SE zal zowel dikte als r.i met het gebruik van CompleteEASE meten: de krachtigste analyse ellipsometry software momenteel op de markt.

Met compact, maken het volledig de geïntegreerde ontwerp en aansluting van USB het uiteindelijke hulpmiddel van de lijstbovenkant, aan een betaalbare prijs.

Aanbieding toepasselijk in slechts UK/Ireland

* Behoudens beschikbaarheid van instrument

Last Update: 13. January 2012 08:21

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit