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Posted in | Microscopy

Neue BeispielHalterungen Erschließen Neue Möglichkeiten für den Phenom-Desktop SEM

Published on February 11, 2010 at 10:11 AM

Phenom-Welt BV kündigt die Produkteinführung einer neuen Sammlung Beispielhalterungen und -einlagen für das PhenomtischplattenRasterelektronenmikroskop (SEM) an. Die neuen Halterungen erhöhen die Reichweite der möglichen Proben beim Beibehalten der Markt-führenden Zeit des Phenoms auf Bild. Schnelles und einfaches Beispielladen stellt schnellere Zeit zu den Daten sicher.

Ladung-Reduzierung BeispielHalterung
Die Meisten industriellen und Forschungsanwendungen benötigen Darstellung von nicht- oder schlecht-Leitproben. Darstellung diese Proben mit der Ladungsreduzierungsbeispielhalterung beseitigt zusätzliche Probenaufbereitung und also verringert den kritischen Moment auf Daten. Darstellungsproben wie Papier, Polymere, organische Materialien, Keramik, Glas und Beschichtungen ist schnell und mit dieser Beispielhalterung störungsfrei.

Mikro-Hilfsmittel BeispielHalterung
Die Darstellung, die, axial-förmige Proben lang ist, ist eine Herausforderung in jedem möglichem SEM, aber in viele industriellen Qualitäts- und Versagenanwendungen benötigt. Mit der Mikrohilfsmittel Beispielhalterung ist- es möglich, hochauflösende Bilder von den Proben wie Bohrgeräten, Schaftfräsern, Fräsern, Bohrstangen, Graviermaschinen, Nadeln, Fasern, (Kraftstoff) Einspritzdüsen und Bleistiften zu machen. Eindeutig auf dem Markt, aktiviert diese Halterung top-down Darstellung von Proben bis 100 mm lang. Proben werden in die Halterung ohne den Bedarf an den Hilfsmitteln oder an anderer Vorbereitung belastet.
Mikroelektronik Einlage
Die neue Mikroelektronikeinlage aktiviert zerstörungsfreie Darstellung von Mikroelektronik, von Solarzellen und von anderen Wafer-basierten Proben. Die eindeutige festklemmende Vorrichtung macht den Kleber oder andere Kleber veraltet und erlaubt, dass die Probe schnell, montiert zu werden und dann zum Produktionsverfahren, oder in anderer Qualitäts- und Fehleranalysemaschinerie verwendet zu werden zurückgebracht wird.

X-Ansicht Einlage
Die X-Ansicht Einlage aktiviert Querschnittsdarstellung von Beschichtungen, von mehrschichtigen Halbleitern und von Bruchoberflächen. Die Probe Vorzubereiten ist schnell und verglichen mit teurer und Zeit raubender Harzbefestigung einfaches. Die X-Ansicht Einlage beseitigt den Bedarf an den Schrauben und an den Hilfsmitteln, die Probe festzuklemmen.
Entsprechend Koen Driessen (Vertriebsleiter an der Phenom-Welt), reflektieren die neuen Halterungen und die Einlagen den Pfad, dass Phenom-Welt beschlossen hat, die Markt fokussierten Lösungen zu erstellen, die auf der Phenomplattform basieren. „Mit diesen neuen Halterungen, vielen unseres Existierens und zukünftigen Abnehmern seien Sie in der Lage, ihre Zeit zu den Daten zu beschleunigen.“

Die Einleitung der neuen Halterungen ist die zweite Etappe in der Reihe Markt fokussierten Lösungen, die der erfolgreichen Produkteinführung der Fibermetric-Anlage im Jahre 2009 folgen. „Die schnelle Aufnahme des Produkts der Fibermetric-Anlage bestätigte, dass es einen Bedarf an den Produkten gibt, die erzeugen Antworten und Lösungen für spezifische Märkte wie die Faser und den Filtrationssektor.“

Last Update: 13. January 2012 06:22

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