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I Nuovi Supporti del Campione Aprono le Nuove Possibilità per il Desktop SEM di Phenom

Published on February 11, 2010 at 10:11 AM

Il Phenom-Mondo BV annuncia il lancio di nuova collezione di supporti e di inserzioni del campione per il microscopio elettronico a scansione da tavolino di Phenom (SEM). I nuovi supporti aumentano l'intervallo dei campioni possibili mentre mantengono il tempo leader di mercato del Phenom all'immagine. Il caricamento Rapido e facile del campione assicura il tempo più veloce ai dati.

Supporto del Campione di Tassa-Riduzione
La Maggior Parte delle applicazioni della ricerca e di industriale richiedono la rappresentazione dei campioni non o diconduzioni. La Rappresentazione questi campioni con il supporto del campione di riduzione della tassa elimina il preparato supplementare del campione ed in modo da riduce il momento critico ai dati. I campioni della Rappresentazione quali documento, i polimeri, i materiali organici, la ceramica, il vetro ed i rivestimenti è veloci e senza difficoltà con questo supporto del campione.

Supporto del Campione dello Micro-Strumento
La Rappresentazione lunga, campioni a forma di assiale è una sfida in tutto il SEM, ma richiesto molti nelle applicazioni industriali dell'errore e di qualità. Con il supporto del campione dello micro-strumento, è possibile fare le immagini ad alta definizione dai campioni quali i trapani, i estremità-mulini, i router, le barre d'alesaggio, le macchine per incidere, i aghi di stampa, le fibre, gli iniettori (del combustibile) e le matite. Unico sul servizio, questo supporto permette alla rappresentazione dall'alto in basso dei campioni di lunghezza fino a 100 millimetri. I Campioni sono caricati nel supporto senza l'esigenza degli strumenti o dell'altro preparato.
Inserzione di Microelettronica
La nuova inserzione della microelettronica permette alla rappresentazione non distruttiva della microelettronica, delle pile solari e di altri a campioni basati a wafer. Il meccanismo di pressione unico rende la colla o altri collanti obsoleti, permettendo che il campione sia montato rapidamente e poi sia restituito al processo di produzione, o essere utilizzato nell'altro macchinario dell'analisi dell'errore e di qualità.

Inserzione di X-Visualizzazione
L'inserzione di X-Visualizzazione permette alla rappresentazione a sezione trasversale dei rivestimenti, dei semiconduttori a più strati e delle superfici di frattura. La Preparazione del campione è veloce e facile confrontata al montaggio costoso e che richiede tempo della resina. L'inserzione di X-Visualizzazione elimina la necessità per le viti e gli strumenti di premere il campione.
Secondo Koen Driessen (Direttore di Marketing al Phenom-Mondo), i nuovi supporti ed inserzioni riflettono il percorso che il Phenom-Mondo ha scelto di creare le soluzioni messe a fuoco servizio basate sulla piattaforma di Phenom. “Con questi nuovi supporti, molti della nostra esistenza ed i clienti futuri possa accelerare il loro tempo ai dati.„

L'introduzione di nuovi supporti è la seconda tappa in serie delle soluzioni messe a fuoco servizio che seguono il riuscito lancio del Sistema di Fibermetric nel 2009. “L'accettazione sul mercato veloce del Sistema di Fibermetric ha confermato che c'è un'esigenza dei prodotti che generano le risposte e le soluzioni per i servizi specifici quali la fibra ed il settore di filtrazione.„

Last Update: 13. January 2012 05:43

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