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JEOL JEM-ARM200F TEM à l'Université du Texas à San Antonio Produit des Résultats En Suspens de Représentation

Published on February 18, 2010 at 11:24 PM

Le premier microscope électronique de boîte de vitesses de son calibre à installer, la définition atomique ardemment attendue JEOL JEM-ARM200F TEM a obtenu à l'Université du Texas à San Antonio en janvier, et a avant début février commencé à produire des résultats en suspens de représentation.

La « Réalisation des images crues de HAADF affichant au moins le transfert de l'information de 78 picometer en juste trois semaines explique la stabilité de cet instrument tout-neuf et la technique de l'équipe d'UTSA-JEOL à rapidement mettent le premier TEM de son genre, » a dit M. Thomas Isabell, Directeur de JEOL ETATS-UNIS de la Division de Produit de TEM.

M. Miguel Yacaman, un microscopiste illustre d'électron et chercheur de directeur de département de physique et d'astronomie d'UTSA de nanotechnologie, a testé la performance neuve d'ARM200F sur des échantillons de SI <110> comme bureau d'études de JEOL, service et l'équipe d'applications a travaillé attentivement ensemble pour installer le TEM dans le Laboratoire Avancé de la Microscopie d'UTSA.

« Au niveau de ce microscope neuf, le potentiel pour des découvertes neuves est énorme, » dit Yacaman, qui a comparé les capacités du JEOL ARM200F pour la recherche plus petite que l'atome à ceux du télescope de Hubble pour l'exploration intergalactique.

L'ARM200F représente plus de 60 ans de compétences de TEM à JEOL et a été conçu de la masse intègre jusqu'à la correction d'aberration en fléau superbe-protégé d'électron qui sauvegarde le bloc optique à la force ultra-haute des interférences environnementales.

« Cette première installation de l'ARM200F explique que JEOL est à l'extérieur dans le front dans le développement de la gamme de produits, des instruments d'ultra-qualité et des étalages au juste de ce que notre service et équipes d'applications sont capables. » ledit Isabell.

Le JEM-ARM200F active la définition de représentation d'atome-par-atome et la résolution spatiale inégalée pour le mappage chimique d'atome-à-atome des matériaux, y compris EDS (spectroscopie aux rayons X énergie-dispersive) et ANGUILLES (spectroscopie d'énergie-perte d'électron). Le design complet neuf de fléau d'électron intègre S/TEM avec la correction de Cs pour la définition d'énergie spatiale atomique combinée avec les courants élevés de sonde pour la microanalyse.

Last Update: 13. January 2012 04:58

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