Hohe Besucherzahl am Seminar über Abweichung Korrigierte Elektronenmikroskopie

Published on February 22, 2010 at 6:20 PM

Ein Seminar über Abweichung korrigierte Elektronenmikroskopie wurde vor kurzem von Carl Zeiss an Universität Harvard gefördert. Die Werkstattanwesenheit war unerwartet hoch. Organisatoren mussten die ungefähr 100 Teilnehmer auf einen viel größeren Vorlesungssal als ursprünglich geplant verschieben.

Prof Frans Spaepen, ZwischenDirektor des CNS (Mitte für Nanoscale-Anlagen) sagte: „Das Seminar über Abweichung-korrigierte Elektronenmikroskopie an CNS war ein großer Erfolg. Es war der Höhepunktpunkt unserer Zusammenarbeit mit Carl Zeiss, zum von Elektronenmikroskopie in Harvard zur Vorderkante zu holen. Die Werkstatt kennzeichnete die in hohem Grade lehrreiche und vorausschauende Gespräche durch die vordersten Experten in der Abweichungskorrektur, einschließlich mehrere von Carl Zeiss sowie Blindeinschub Vorführungen der Next day. Ich war mit dem Interesse von sowohl innerhalb als auch außerhalb Harvard sehr erfreut, und Ich danke den Wissenschaftlern, den Ingenieuren und den Managern bei Carl Zeiss, damit das Helfen ermöglicht dieses.“

Am ersten Tag gaben international bekannte Spezialisten auf dem Gebiet Vorträge auf dem Hintergrund, der Theorie, der Implementierung und den Anwendungen der Abweichungskorrektur in TEM und im STAMM. Der zweite Tag, der auf Seminare gerichtet wurde, Korrigierten Diskussionssitzungen und Studententutorien auf der zwei eben eingebauten ZEISS-Waage 200 Monochromated-Abweichung Elektronenmikroskope an Universität Harvard. Diese sind in der Mitte für Nanoscale-Anlagen.

Last Update: 13. January 2012 05:00

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