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Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

Il Lotto-ORIEL Annuncia la Disponibilità di Nuovo J Un Woollam Ellipsometer T-Solare

Published on February 23, 2010 at 7:22 AM

Il Lotto-ORIEL annuncia fiero la disponibilità di NUOVO J Un Woollam T-Solar™ Ellipsometer - ottimizzato per misurare la vasta gamma delle Pellicole Sottili Fotovoltaiche.

Il ellipsometer di T-Solar™ combina la migliore tecnologia fotovoltaica di misura in un singolo sistema progettato specificamente per i campioni strutturati.

Sulla Base del ellipsometer spettroscopico girante stabilito del compensatore di M-2000®, centinaia T-Solari di misure di lunghezza d'onda attraverso il UV-Visibile-NIR.

Per migliorare la prestazione sulle superfici approssimative e strutturate che diminuiscono significativamente ha riflesso il segnale, associazioni T-Solari una sorgente Ad Alta Intensità speciale della Lampada con il nostro nuovo Intensità-Ottimizzatore.

T-Solare è perfetto per la caratterizzazione dei rivestimenti dell'AR sulle superfici incise del silicio. Inoltre, caratterizza un tilt-rotation-stage* regolabile, che è richiesto per allineare le strutture della piramide delle superfici monocristalline alcalino-incise.

Applicazioni di PV:

  • Substrati Strutturati di Multicrystalline e Mono
  • Rivestimenti dell'AR (SiNx, AlNx…)
  • Ossidi Conduttivi Trasparenti
    • ITO
    • ZnOx
    • SnO verniciato2
    • AZO
  • Un-Si, µc-Si, silicio policristallino
  • CdTe, Cd, CIGS
  • Materiali Organici di PV
  • Pellicole Sensibilizzate Tintura

Per più informazioni vada prego a http://www.lot-oriel.com/ o contatti i Giovani su 01372 378822, il email heath@lotoriel.co.uk della Brughiera.

Last Update: 13. January 2012 04:22

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