Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
Posted in | Nanoanalysis | Nanobusiness

批次突壁窗宣佈新的 J 的可用性 Woollam T 太陽 Ellipsometer

Published on February 23, 2010 at 7:22 AM

批次突壁窗驕傲地宣佈新的 J 的可用性 Woollam T-Solar™ - 優化的 Ellipsometer 評定大範圍光致電壓的薄膜。

T-Solar™ ellipsometer 結合最佳的光致電壓的評定技術到為織地不很細範例特別地設計的一個唯一系統。

憑被設立的 M-2000® 轉動的補償器分光鏡 ellipsometer, T 太陽評定數百在紫外可視NIR 間的波長。

要改進在極大減少的概略,織地不很細表面的性能反射了信號, T 太陽聯合收穫機與我們新的強度優化程序的一個特殊高強度閃亮指示來源。

T 太陽對分析在被銘刻的硅表面的 AR 塗層是理想的。 另外,它以一可調整的 tilt-rotation-stage* 為特色,要求對齊碱性被銘刻的單晶質的表面金字塔結構。

PV 應用:

  • 織地不很細單音和 Multicrystalline 基體
  • AR 塗層 (SiNx, AlNx…)
  • 透明導電性氧化物
    • ITO
    • ZnOx
    • 被摻雜的 SnO2
    • AZO
  • Si, µc Si,多 Si
  • CdTe, CdS,香煙
  • 有機 PV 材料
  • 染料使敏感的影片

對於更多信息请請去 http://www.lot-oriel.com/ 或請與在 01372 378822 的荒地年輕人,電子郵件 heath@lotoriel.co.uk 聯繫

Last Update: 25. January 2012 14:37

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit