Материалы Старея Просвечивающий Электронный Микроскоп Скеннирования Титана Комиссий FEI Института

Published on March 3, 2010 at 7:55 PM

Компания FEI (NASDAQ: FEIC), ая компания водя научных приборов обеспечивая электрон и микроскопы и инструменты ионного луча для применений nanoscale через много индустрий, объявляют завершение установки многоэлементной системы на Материалах Старея Институт (MAI) в Франция, общ-ориентированный исследовательскийа центр профинансированный Electricité de Франция (EDF), Компания Электричества Токио (TEPCO), Компания Электричества Kansai (KEPCO) и Научно-исследовательский Институт Электричества США (EPRI).

Лаборатория микроскопии MAI теперь поручала свой новый микроскоп Просвечивающего Электронного Микроскопа Скеннирования Титана FEI (S/TEM), самый мощный имеющий на рынке микроскоп в мире. Титан соединяет FEI Tecnai S/TEM MAI, Helios DualBeam и 600 Поля Суммы Пушки Излучения (FEG) в одном из средств микроскопии мира премьер-министр, где они будут использованы для того чтобы изучить вызревание материалов для того чтобы улучшить надежность и безопасность, и продлевает продолжительности жизни, заводов ядерных и неядерного государства.

«Способность Титана разрешить атомную деталь совершенно необходима к нашей работе,» сказал Laurent Legras, головку лаборатории ВСТРЕЩЕННОЙ MAI. «Много из самых предыдущих и самых основных шагов процесса вызревания только видим на атомном уровне. С Титаном, мы можем сравнить реальные материалы к нашим имитациям компьютера для проверки нашего вникания механизмов вызревания и обрабатываем специфический к поколению ядерной державы. Мы можем также изучить химическое соединение, оксидацию, корозию, и другие процессы которые применяются более обширно к большинств типам производства электроэнергии. Эти опыт сочетание из рабочий, экспириментально знание, и моделирование компьютера соединенных процессов после этого позволяют нам предвидеть вызревание и увеличивать стойкость материалов, компонентов и структур используемых в электростанциях.»

Тони Edwards, старший вице-президент FEI, разделения рынка, сказало, «FEI делит длинную историю с EDF, Французский ядерный гигант который сыграл ключевую роль в развитии и конструкции MAI. Это выдающий пример как воображение и характеризация на атомном маштабе могут включить выдвижения в технологии энергии. Ablility, котор нужно характеризовать, и даже манипулировать, материалы на атомном маштабе обеспечивает критические проницательности в ценные новые виды технологии и позволяет постоянно улучшения к тем уже в пользе. Мы довольный что Титан и другие микроскопы FEI теперь производят критические данные для этой важной работы.»

Tecnai S/TEM использовано для по заведенному порядку исследований структуры и состава. Helios DualBeam совмещает воображение электронного кинескопа (SEM) скеннирования и сфокусированный луч иона (FIB) филируя для того чтобы позволить воображению высок-разрешения и анализу трехмерных структур и близповерхностных дефектов. Рассмотрение SEM разрешений Сумм 600 FEG образцов под большим разнообразием вакуума и условий окружающей среды, включая динамические замечания оксидации, корозии, и других процессов химиката и физических вызревания.

Last Update: 13. January 2012 04:35

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit