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Bruker 納諾生成在 Analytica 的新的 N8 NEOS 2010年

Published on March 23, 2010 at 7:56 PM

在 Analytica 2010年, Bruker 納諾今天生成與史無前例的穩定性的新的 N8 NEOS™、 (AFM)被設計并且被管理像古典光學顯微鏡的第一個基本強制啟用基本解決方法的顯微鏡,和精確度。

作為今天最先進的光學上駕駛的 AFM,新的 N8 NEOS 提供熟悉處理多數研究光學顯微鏡。 範例調查從光學檢驗開始在更低更高的放大然後確定地區利益。 終於,為緊湊最高,基本解決方法的 Bruker 的,基於干涉測量法的 AFM 模塊 NANOS™使用。 掛接在目的砲塔請请喜歡多種光學目的, NANOS 能確定到在少於 1 µm 內的局限化的地點由這個砲塔的輪。 由於其革命新概念, N8 NEOS 提供 AFM 的無縫集成到微型和 nanoscopic 檢驗進程。

與其前輩比較,新的 N8 NEOS AFM 系統的基本部分被重新設計了。 一個嚴格的花崗岩立場合併最低的熱量偏差的和高穩定性。 超精確度垂直的階段是所有權發展并且啟用一個快速和安全的自動途徑。 像所有 Bruker AFMs, N8 NEOS 使用光導纖維的干涉測量法作為這項基本原則為懸臂式偏折的檢測,提供與懸臂的偏折和高度的一個正確地被校準的評定結合的優越區分,分別。

「N8 NEOS 是有一個標準光學顯微鏡的品質的第一個基本強制顯微鏡。 然而,它擴展想像功率對這個基本級別。 它是我們的提供納諾想像工具的目標沒有在解決方法或易用的妥協,并且與 N8 NEOS 我們實現了此目標」,指明的博士弗蘭克 Saurenbach, Bruker 的 AFM 副總統納諾。

「AFM 不再是異乎尋常的成像技術」,解釋的博士漢斯阿奇姆 Fuss,納諾的 CTO Bruker AFM。 「N8 NEOS 理想地說結合在一個唯一檢查系統的光學和 AFM 技術。 此扣人心弦和唯一儀器比使 AFM 技術容易的十年是更多的結果持續的發展對所有顯微鏡家。 光學和基本強制顯微學一起終於來」。

新的 N8 NEOS 的美國生成在材料研究社團 (MRS)春季會議 (Bruker 攤 # 400) 2010年 4月 6-8 上,在舊金山, CA。

Last Update: 25. January 2012 16:36

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